[发明专利]气井完整性检查系统有效

专利信息
申请号: 201580058721.0 申请日: 2015-08-04
公开(公告)号: CN107076871B 公开(公告)日: 2020-01-17
发明(设计)人: E.伯肯;J.S.普赖斯;E.J.尼特斯;W.R.罗斯;C.比诺;Y.A.普罗特尼科夫;S.M.李 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: G01V5/14 分类号: G01V5/14
代理公司: 72001 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 严志军;谭祐祥
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种井完整性检查系统(100),配置成检查包括多个同心层的井结构(102)。井完整性检查系统(100)包括定位于井结构(102)中的检查探头(104)。检查探头(104)包括用于将多个辐射发射(134、164)传输至井结构(102)中的多个激励组件(132、162)。多个激励组件(132、162)包括至少中子激励组件(132)和X射线激励组件(162)。检查探头(104)还包括多个探测组件(136、166),其配置成从井结构接收多个背向散射辐射回波(138、168)。多个探测组件(136、166)包括至少中子探测组件(136)和X射线探测组件(166)。井完整性检查系统(100)还包括可操作地联接至检查探头(104)的处理器(190)。处理器(190)配置成基于多个背向散射辐射回波(138、168)中的至少一个来确定井结构(102)的井完整性参数。
搜索关键词: 气井 完整性 检查 系统
【主权项】:
1.一种配置成检查井结构的井完整性检查系统,所述井结构包括多个同心层,所述井完整性检查系统包括:/n定位于所述井结构中的检查探头,所述检查探头包括:/n多个激励组件,其配置成将成形的多个辐射发射传输至所述井结构中,其中所述多个激励组件至少包括中子激励组件和X射线激励组件;以及/n多个探测组件,其配置成从所述井结构接收调制后的多个背向散射辐射回波,其中所述多个探测组件至少包括中子探测组件和X射线探测组件;以及/n处理器,其联接至所述检查探头,所述处理器配置成基于调制后的所述多个背向散射辐射回波中的至少一个来确定所述井结构的井完整性参数;/n其中所述井结构还包括流体流动管道、外接所述流体流动管道的多个同心套管、以及多个同心稳定器区域,各同心稳定器区域定位于相邻的同心套管之间,其中所述多个激励组件将所述多个辐射发射传输至所述多个同心套管中的至少两个相邻的同心套管和所述多个同心稳定器区域中的至少两个同心稳定器区域中。/n
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