[发明专利]旋转检测装置

摘要

在旋转检测装置(Rotation Detection Apparatus)(20)中，信号检测器(30)基于多个磁阻元件对(31～33)的磁阻值的变化，分别生成与转子(10)的凸部(12)以及凹部(13)的凹凸构造对应的波形的第一信号(S3)，以及相对于第一信号具有相位差的波形的第二信号(S4)。此外，判定电路(40)从信号检测器输入第一信号以及第二信号，比较第一信号与二值化阈值并生成使第一信号二值化而得的第一二值化信号，并且比较第二信号与二值化阈值并生成使第二信号二值化而得的第二二值化信号。进而，判定电路在第一期间允许第一二值化信号的输出，在第二期间禁止第一二值化信号的输出，所述第一期间是指第二二值化信号的凹部期间(45)以及凸部期间(46)中的某一个期间，所述第二期间是指另一个期间。

主权项

一种旋转检测装置，对具有凹凸构造的齿轮型的转子(10)的旋转进行检测，所述凹凸构造是将多个凸部(12)与多个凹部(13)在旋转方向上交替地设置各凸部与各凹部而成的构造，所述旋转检测装置具备：信号检测器(30)，具有磁阻值伴随所述转子(10)的旋转而变化的多个磁阻元件对(31～33)，且所述信号检测器(30)基于所述多个磁阻元件对(31～33)的磁阻值的变化，分别生成与包含所述转子(10)的所述凸部(12)以及所述凹部(13)的所述凹凸构造对应的波形的第一信号、以及相对于所述第一信号具有相位差的波形的第二信号；以及判定电路(40)，具有用于使所述第一信号以及所述第二信号二值化的二值化阈值，所述判定电路(40)从所述信号检测器(30)输入所述第一信号以及所述第二信号，比较所述第一信号与所述二值化阈值，生成使所述第一信号二值化而得的第一二值化信号，并且所述判定电路(40)比较所述第二信号与所述二值化阈值，生成使所述第二信号二值化而得的第二二值化信号，进而，所述判定电路(40)在第一期间允许所述第一二值化信号的输出，在第二期间禁止所述第一二值化信号的输出，所述第一期间是指所述第二二值化信号中的、与所述凹部(13)对应的凹部期间(45)以及与所述凸部(12)对应的凸部期间(46)中的某一个期间，所述第二期间是指所述第二二值化信号中的、与所述凹部(13)对应的凹部期间(45)以及与所述凸部(12)对应的凸部期间(46)中的另一个期间，所述多个磁阻元件对由构成半桥电路的第1磁阻元件对(31)、第2磁阻元件对(32)以及第3磁阻元件对(33)构成，在所述转子(10)的旋转方向上以所述第2磁阻元件对(32)位于所述第1磁阻元件对(31)与所述第3磁阻元件对(33)之间的方式配置各个磁阻元件对，若将所述第1磁阻元件对(31)的中点电位定义为A，将第2磁阻元件对(32)的中点电位定义为B，将第3磁阻元件对(33)的中点电位定义为C，则所述信号检测器(30)获取(A‑B)‑(B‑C)作为所述第一信号，获取(A‑C)作为所述第二信号。