[实用新型]集成电路测试装置有效
| 申请号： | 201521133796.4 | 申请日： | 2015-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN205484691U | 公开（公告）日： | 2016-08-17 |
| 发明（设计）人： | 张立国 | 申请（专利权）人： | 深圳市科美集成电路有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 方高明 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种集成电路测试装置，包括转接板、测试底座、测试仪和PC机；转接板上设有包括多个测试点的测试区和所述测试仪的数据输出接口；多个测试点分别具有可被测试仪识别的唯一标识；测试底座具有连接集成电路引脚的插入口；测试底座位于测试区，且插入口与测试点一一对应；测试仪上设有与多个测试点对应连接的数据输入接口，用于测试通过测试底座连接的集成电路的电学参数；PC机与测试仪连接。利用上述集成电路测试装置，将待测试的多种集成电路放置在测试底座上，测试底座设置在可被测试仪识别的测试区上，PC机将测试程序传送给测试仪对集成电路进行测试，其测试效率高、成本低、实用性强。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种集成电路测试装置，用于测试集成电路，包括转接板、测试底座、测试仪和PC机；其特征在于，所述转接板上设有包括多个测试点的测试区和连接所述测试仪的数据输出接口；多个所述测试点分别具有可被所述测试仪识别的唯一标识；所述测试底座具有用于连接所述集成电路引脚的插入口，以连接所述集成电路，所述测试底座位于所述测试区，且插入口与所述测试点一一对应；所述测试仪上设有与多个所述测试点对应连接的数据输入接口，用于测试通过所述测试底座连接的所述集成电路的电学参数；所述PC机与所述测试仪连接，用于将测试程序传送给所述测试仪对所述集成电路进行测试。
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