[实用新型]在片微波探针测试夹具有效

专利信息
申请号: 201520406028.5 申请日: 2015-06-12
公开(公告)号: CN204666669U 公开(公告)日: 2015-09-23
发明(设计)人: 胡志富;刘亚男;杜光伟;李静强;何美林;冯彬;彭志农;曹健 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 石家庄国为知识产权事务所 13120 代理人: 李荣文
地址: 050051 *** 国省代码: 河北;13
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摘要: 实用新型公开了一种在片微波探针测试夹具,涉及微波在片测试方法技术领域。所述测试夹具包括第一测试PAD、第二测试PAD、第三测试PAD、第一对位标记、第二对位标记、第三对位标记和第四对位标记。通过测试夹具上的对位标记,在测试的过程中能够保证被测件的参考面与校准件的测量参考面相一致,从而避免探针扎针的不一致性导致额外的误差引入,提高了测量的精确度。
搜索关键词: 微波 探针 测试 夹具
【主权项】:
一种在片微波探针测试夹具,其特征在于:包括第一测试PAD(1)、第二测试PAD(2)、第三测试PAD(3)、第一对位标记(4)、第二对位标记(5)、第三对位标记(6)和第四对位标记(7),所述第一测试PAD(1)、第二测试PAD(2)和第三测试PAD(3)沿左右方向间隔设置,所述第一对位标记(4)和第二对位标记(5)位于第一测试PAD(1)与第二测试PAD(2)之间,所述第三对位标记(6)和第四对位标记(7)位于第二测试PAD(2)与第三测试PAD(3)之间,所述第一对位标记(4)和第二对位标记(5)构成一组并沿前后方向设置,所述第三对位标记(6)和第四对位标记(7)构成一组并沿前后方向设置,所述第一对位标记(4)和第三对位标记(6)在一条直线上,所述第二对位标记(5)和第四对位标记(7)在另一条直线上,所述第一对位标记(4)和第二对位标记(5)间的距离与第三对位标记(6)和第四对位标记(7)间的距离相等;第一对位标记(4)、第二对位标记(5)、第三对位标记(6)和第四对位标记(7)所在的两条直线横穿第一测试PAD(1)、第二测试PAD(2)和第三测试PAD(3)。
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