[实用新型]多点式金属化薄膜电阻测试支架

摘要

本实用新型公开了一种多点式金属化薄膜电阻测试支架，包括一用于平托金属化薄膜样品的支撑底座；两个用于接触金属化薄膜样品的检测头，两个所述检测头分别连接电阻检测设备的正负极检测线；两个固定设置于所述支撑底座上用于夹持金属化薄膜样品的夹持片，两个所述夹持片相互平行；一个或两个活动设置于所述支撑底座上用于固定所述检测头的固定片，所述固定片位于两个所述夹持片之间且平行于两个所述夹持片，所述固定片上设置有镂空的检测滑槽，所述检测头位于所述检测滑槽内。本实用新型所述的多点式金属化薄膜电阻测试支架，无需多次改变金属化薄膜的夹持方式，即可完成金属化薄膜多个位置之间的电阻特性的检测。

主权项

一种多点式金属化薄膜电阻测试支架，其特征是，包括：一用于平托金属化薄膜样品的支撑底座（1）；两个用于接触金属化薄膜样品的检测头（2），两个所述检测头（2）分别连接电阻检测设备的正负极检测线；两个固定设置于所述支撑底座（1）上用于夹持金属化薄膜样品的夹持片（3），两个所述夹持片（3）相互平行；一个或两个活动设置于所述支撑底座（1）上用于固定所述检测头（2）的固定片（4），所述固定片（4）位于两个所述夹持片（3）之间且平行于两个所述夹持片（3），所述固定片（4）在平行于所述夹持片（3）的方向上设置有镂空的检测滑槽（41），所述检测头（2）位于所述检测滑槽（41）内。