[发明专利]合成孔径雷达图像辐射测量误差校正方法有效
申请号: | 201511017616.0 | 申请日: | 2015-12-30 |
公开(公告)号: | CN106932762B | 公开(公告)日: | 2019-05-31 |
发明(设计)人: | 毛永飞;韩运忠;高文军 | 申请(专利权)人: | 北京空间飞行器总体设计部 |
主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40;G01S13/90 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100094 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种合成孔径雷达图像辐射测量误差校正方法,用于校正合成孔径雷达天线的方向图加权和传播距离衰减对合成孔径雷达图像的灰度的影响,包括:根据合成孔径雷达系统参数与几何参数,计算合成孔径雷达图像中各个像元所对应的天线传播方向与传播斜距;根据合成孔径雷达天线的方向图数据和合成孔径雷达信号的传播距离衰减规律,计算合成孔径雷达图像中各个像元的方向图加权校正函数和传播距离加权校正函数;根据方向图加权校正函数和传播距离加权校正函数,对合成孔径雷达图像中各个像元的灰度进行补偿处理。因此,采用本发明,可以校正SAR天线方向图加权、传播距离衰减等因素对SAR图像灰度的影响,从而校正了SAR图像的辐射测量误差。 | ||
搜索关键词: | 合成孔径雷达 图像 辐射 测量误差 校正 方法 | ||
【主权项】:
1.一种合成孔径雷达图像辐射测量误差校正方法,用于校正合成孔径雷达天线的方向图加权和传播距离衰减对合成孔径雷达图像的灰度的影响,其特征在于,包括以下步骤:步骤一,根据合成孔径雷达系统参数与几何参数,计算合成孔径雷达图像中各个像元所对应的天线传播方向与传播斜距;步骤二,根据所述合成孔径雷达天线的方向图数据和合成孔径雷达信号的传播距离衰减规律,计算所述合成孔径雷达图像中所述各个像元的方向图加权校正函数和传播距离加权校正函数;以及步骤三,根据所述方向图加权校正函数和所述传播距离加权校正函数,对所述合成孔径雷达图像中所述各个像元的灰度进行补偿处理,所述合成孔径雷达天线的所述方向图加权校正函数的计算公式为:
其中,K1(n)为所述合成孔径雷达天线的所述方向图加权校正函数,f1(θ)为所述合成孔径雷达天线的发射幅度方向图函数,f2(θ)为所述合成孔径雷达天线的接收幅度方向图函数,并且在所述合成孔径雷达系统采用同一个天线收发信号的情况下,f1(θ)与f2(θ)相同,所述传播距离加权校正函数为所述合成孔径图像距离向第n个像元灰度关于合成孔径传播衰减影响的校正函数并且所述传播距离加权校正函数的计算公式为:
其中,K2(n)为所述传播距离加权校正函数,以及R(n)为所述合成孔径雷达图像中第n, n=1,2,3……, 个像元所对应的传播斜距,n表示对应像元的次序。
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