[发明专利]一种确定勘探区表层结构信息的方法和装置在审
| 申请号： | 201510962551.0 | 申请日： | 2015-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN105572731A | 公开（公告）日： | 2016-05-11 |
| 发明（设计）人： | 白旭明;赵贤正;邓志文;崔宏良;王瑞贞;胡清;张学银;王金宽;张小燕 | 申请（专利权）人： | 中国石油天然气集团公司;中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司 |
| 主分类号： | G01V1/28 | 分类号： | G01V1/28;G01V1/36 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;刘飞 |
| 地址： | 100007 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供一种确定勘探区表层结构信息的方法和装置。该方法包括：对采集的勘探区地震记录的折射初至信息进行折射解释处理，得到第一表层结构信息；对采集的勘探区地震记录的面波频散信息进行表层反演处理，得到第二表层结构信息；判断所述第一表层结构信息中表层速度信息与所述第二表层结构信息中的表层速度信息是否相匹配；根据所述判断的结果确定所述勘探区的表层结构信息。利用本申请实施例提供的技术方案可以更准确的确定出勘探区的表层结构信息，为提高地震资料的品质提供数据支持。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 确定 勘探 表层结构 信息 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种确定勘探区表层结构信息的方法，其特征在于，所述方法包括：对采集的勘探区地震记录的折射初至信息进行折射解释处理，得到第一表层结构信息；对采集的勘探区地震记录的面波频散信息进行表层反演处理，得到第二表层结构信息；判断所述第一表层结构信息中表层速度信息与所述第二表层结构信息中的表层速度信息是否相匹配；根据所述判断的结果确定所述勘探区的表层结构信息。
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