[发明专利]一种羟丙基壳聚糖取代度的测定方法

摘要

本发明公开了一种羟丙基壳聚糖取代度的测定方法，包括：⑴干燥羟丙基壳聚糖样品。⑵建立检测模型：a.利用红外吸收光谱仪得到上述样品的红外吸收光谱图；b.测得甲基特征峰1460‑1456cm‑1的面积的吸光度值A1与C2位上氨基特征峰1602‑1596cm‑1的峰高的吸光度值A2的比值X；c.以标准方法测得羟丙基壳聚糖样品的取代度Y；d.以Y对X建立线性良好的回归模型Y＝kX+b，从而获得模型中k和b的具体数值。⑶将待测样品通过红外吸收光谱图得到的比值X代入上述线性回归模型，即可通过计算得到取代度Y。该方法简便快捷、准确、无须精密称量和溶解样品。

主权项

一种测定羟丙基壳聚糖取代度的方法，包括以下步骤：⑴干燥羟丙基壳聚糖样品以除去水分，其中每个羟丙基壳聚糖样品均通过羟丙基化反应和脱碱法纯化制得，并来源于脱乙酰度已知的同一原料壳聚糖和/或脱乙酰度与该原料壳聚糖相差不超过3％的壳聚糖；⑵建立检测模型a.利用红外吸收光谱仪得到不同取代度的羟丙基壳聚糖样品的红外吸收光谱图；b.利用红外吸收光谱仪的应用软件，从a步骤中所得到的羟丙基壳聚糖的红外吸收光谱图测得甲基特征峰1460‑1456cm^‑1的面积的吸光度值A1，以整个波形1530‑1215cm^‑1的波谷连线为基线BL1，以甲基特征峰的右侧波谷为横向边界；测得C2位上氨基特征峰1602‑1596cm^‑1以其波谷连线为基线BL2的峰高的吸光度值A2；A1与A2的比值X；c.以标准方法测得a步骤中的羟丙基壳聚糖样品的取代度Y；d.以b步骤中所得到的比值X对c步骤中所得到的羟丙基壳聚糖样品的取代度Y建立线性良好的回归模型，即Y＝kX+b，从而获得模型中k和b的具体数值；⑶检测：将待测羟丙基壳聚糖样品按照⑴中a步骤得到红外吸收光谱图，按照⑵中b步骤得到比值X，代入⑵中d步骤的线性回归模型，即可通过计算得到待测羟丙基壳聚糖样品的取代度Y。