[发明专利]数字集成电路直流参数标准复现方法及标准装置有效

专利信息
申请号: 201510458064.0 申请日: 2015-07-30
公开(公告)号: CN104991214B 公开(公告)日: 2017-12-29
发明(设计)人: 胡勇;孙崇钧;刘倩 申请(专利权)人: 中国船舶重工集团公司第七0九研究所
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 武汉河山金堂专利事务所(普通合伙)42212 代理人: 胡清堂
地址: 430205 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了数字集成电路直流参数标准复现方法,包括以下步骤S1控制器设置直流参数标准值;S2仪器模块组根据直流参数标准值以及待测试装置的施加值在测试回路中复现直流参数,控制器接受复现的直流参数,并与所述直流参数标准值进行比较,得到误差测试结果;S3若误差测试结果超过控制器规定的误差判定范围,控制器利用二分法算法对测试回路中的直流参数进行修正,直到误差测试结果小于规定的误差判定范围,修正后的直流参数即是复现的直流参数标准。本发明,控制器将待测试装置测试的回路中的数字集成电路直流参数与数字集成电路直流参数标准进行比较,从而实现数字集成电路直流参数的校准。
搜索关键词: 数字集成电路 直流 参数 标准 复现 方法 装置
【主权项】:
一种数字集成电路直流参数标准复现方法,其特征在于:包括以下步骤:S1:数字集成电路直流参数标准装置(1)中的控制器(12)设置数字集成电路直流参数标准值;S2:数字集成电路直流参数标准装置(1)中的PXI仪器模块组(11)根据所述数字集成电路直流参数标准值以及待测试装置(2)对数字集成电路直流参数标准装置(1)两端的电压/电流施加值在由控制器(12)、PXI仪器模块组(11)、待测试装置(2)依次串联连接形成的测试回路中复现数字集成电路直流参数,控制器(12)接收PXI仪器模块组(11)复现的测试回路中的数字集成电路直流参数,并与所述数字集成电路直流参数标准值进行比较,得到误差测试结果;S3:若所述误差测试结果超过控制器(12)规定的误差判定范围,控制器(12)利用二分法算法对测试回路中的数字集成电路直流参数进行修正,直到误差测试结果小于规定的误差判定范围,修正后的数字集成电路直流参数即是数字集成电路直流参数标准装置(1)复现的数字集成电路直流参数标准。
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