[发明专利]一种用于电磁兼容性试验的表面电流注入测量法在审
| 申请号： | 201510366468.7 | 申请日： | 2015-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN105044494A | 公开（公告）日： | 2015-11-11 |
| 发明（设计）人： | 方愔 | 申请（专利权）人： | 中国航空无线电电子研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海和跃知识产权代理事务所(普通合伙) 31239 | 代理人： | 杨慧 |
| 地址： | 200233 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于电磁兼容性试验的表面电流注入测量法，包含以下步骤：一、配置合适的受试件接地方式和接地点位置；二、用表面电流探头测量受试件的关注区域金属表面在低电平辐照下的垂直于磁场切向分量的感应表面电流，得到低电平辐照场强与金属表面感应电流之间的传输函数；三、利用高低电平之间的线性关系外推高电平辐照场强下的感应表面电流；四、对受试件通过表面电流探头注入高电平辐照场强下的感应表面电流完成试验。本发明提供一种替代EMC辐射敏感度试验的测试方法，由此得到的系统/设备的敏感情况就可与高电平辐射场照射时相比拟等价。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 电磁 兼容性 试验 表面 电流 注入 测量 | ||
【主权项】：
一种用于电磁兼容性试验的表面电流注入测量法，其特征在于包含以下步骤：一、配置合适的受试件接地方式和接地点位置；二、用表面电流探头测量受试件的关注区域金属表面在低电平辐照E外low下的垂直于磁场切向分量的感应表面电流，得到低电平辐照场强与金属表面感应电流之间的传输函数=I表low/E外low；三、利用高低电平之间的线性关系外推高电平辐照场强下的感应表面电流：I表high＝E外high×I表low/E外low；四、对受试件通过表面电流探头注入高电平辐照场强下的感应表面电流I表high完成试验。
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