[发明专利]离子膜电解槽负荷优化方法

摘要

一种离子膜电解槽负荷优化方法，属于电解槽技术领域。其特征在于，调节步骤为：根据每一台电解槽平均负荷运行的槽况由差至好分为高、中高、中、中低、低五个档次，在保证总电流不变的前提下，根据步骤2）将电解槽分成的档次，对各电解槽的分电流进行调节，高档电解槽的分电流降低10%~30%，中高档电解槽的分电流降低5%~10%，中档电解槽的分电流不变，中低档电解槽的分电流提高5%~10%，低档电解槽的分电流提高10%~20%。通过本发明的方法优化电解槽负荷，使电解装置得到较低的直流电耗和较低的酸耗，并且能够延长离子膜的运行寿命。

主权项

1.一种离子膜电解槽负荷优化方法，其特征在于，调节步骤为：1）在每台电解槽都以平均负荷运行的情况下记录分电流I和每一台电解槽的槽电压Ui，计算各电解槽槽电压Ui的平均值U0；并计录各电解槽槽电压Ui与平均值U0的差Ui‑ U0；2）根据步骤1）记录的电解槽槽电压的实际情况分为高、中高、中、中低、低五个档次；其中，高档电解槽的划分条件为：Ui‑ U0＞1.5V、离子膜使用时间＞2年且电解槽的总运行时间＞4年；中高档电解槽的划分条件为：Ui‑ U0＞1.5V 、离子膜使用时间≤2年或/且电解槽的总运行时间≤4年；或者，0.2V＜Ui‑ U0≤1.5V、离子膜使用时间＞1年且电解槽的总运行时间＞3年；中档电解槽的划分条件为：0.2V＜Ui‑ U0≤1.5V、离子膜使用时间≤1年或/且电解槽的总运行时间≤3年；或者，‑0.2V≤Ui‑ U0≤0.2V、离子膜使用时间＞6个月且电解槽的总运行时间＞2年；中低档电解槽的划分条件为：‑0.2V≤Ui‑ U0≤0.2V、离子膜使用时间≤6个月或/且电解槽的总运行时间≤2年；或者，‑1.5V≤Ui‑ U0＜‑0.2V、离子膜使用时间＞2个月且电解槽的总运行时间＞1年；低档电解槽的划分条件为：‑1.5V≤Ui‑ U0＜‑0.2V、离子膜使用时间≤2个月或/且电解槽的总运行时间≤1年；或者，Ui‑ U0＜‑1.5V；当Ui‑ U0＜‑1.5V时无需考虑离子膜使用时间和电解槽的总运行时间，电解槽一律为低档；3）在保证总电流不变的前提下，根据步骤2）将电解槽分成的档次，对各电解槽的分电流进行调节，高档电解槽的分电流降低10%~30%，中高档电解槽的分电流降低5%~10%，中档电解槽的分电流不变，中低档电解槽的分电流提高5%~10%，低档电解槽的分电流提高10%~20%；步骤3）中电解槽的分电流调节幅度与步骤1）记录的电解槽槽电压Ui和各电解槽槽电压的平均值U0的差的绝对值︱Ui‑ U0︱成正比，电解槽分电流的调节幅度与电解槽的离子膜使用时间、电解槽的总运行时间成正比。