[发明专利]地址发生电路和具有该地址发生电路的存储器件有效

专利信息
申请号: 201510107843.6 申请日: 2015-03-12
公开(公告)号: CN105304118B 公开(公告)日: 2021-03-23
发明(设计)人: 郑喆文;金生焕 申请(专利权)人: 爱思开海力士有限公司
主分类号: G11C11/406 分类号: G11C11/406
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 俞波;毋二省
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开一种地址发生电路,其可以包括:第一锁存单元,适于锁存通过反相输入地址的一部分所获得的地址;第二锁存单元,适于锁存该第一锁存单元的部分反相的输入地址,并且适于在目标刷新周期期间的第一刷新操作之后来锁存加/减地址;第三锁存单元,适于在该目标刷新周期之外的周期期间锁存该第一锁存单元的部分反相的输入地址;以及加法/减法单元,适于通过向/从该第二锁存单元中被锁存的地址加/减预定值来产生该加/减地址。
搜索关键词: 地址 发生 电路 具有 存储 器件
【主权项】:
一种地址发生电路,包括:第一锁存单元,适于锁存通过将输入地址的一部分反相所获得的地址;第二锁存单元,适于锁存所述第一锁存单元的部分反相的输入地址,并且适于在目标刷新周期期间的第一刷新操作之后来锁存加/减地址;第三锁存单元,适于在所述目标刷新周期之外的周期期间锁存所述第一锁存单元的部分反相的输入地址;以及加法/减法单元,适于通过向/从所述第二锁存单元中被锁存的地址加上/减去预定值来产生所述加/减地址。
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  • 本发明提供一种半导体装置,其包括存储芯片及温度检测模块,所述温度检测模块用于检测所述存储芯片的温度,所述温度检测模块包括:温度检测单元,用于检测所述存储芯片的温度,并输出与所述温度对应的模拟信号;A/D转换模块,包括多个比较单元,所述比较单元包括输入端、参考端和输出端,所述输入端接收所述温度检测单元输出的模拟信号,所述输出端输出数字信号,多个所述比较单元参考端所接收的参考电压非均匀的增加。本发明优点是,利用温度检测模块检测存储芯片温度,避免存储芯片在低温下启动及运行,缩短写入时间,提高存储芯片写入稳定性;同时,控制不同电压区域测量精度,从而既能够保证需要精确测量区域的测量精度,又能够提高测量效率。
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