[发明专利]显示装置和用于检测显示装置上的表面剪切力的方法有效

专利信息
申请号: 201510090015.6 申请日: 2015-02-27
公开(公告)号: CN104881166B 公开(公告)日: 2020-05-01
发明(设计)人: 戴维.M.霍夫曼 申请(专利权)人: 三星显示有限公司
主分类号: G06F3/041 分类号: G06F3/041
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 弋桂芬
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供了一种显示装置以及用于检测显示装置上的表面剪切力的方法。该显示装置包括:像素阵列,包括多个像素;多个红外(IR)发射器,用于朝向显示装置的表面发射IR光;用于检测IR光的多个IR探测器;可变形层,在像素上、在IR发射器上、在IR探测器上并在显示装置的表面处;以及在可变形层处的多个示踪物,用于朝向IR探测器反射由IR发射器发射的IR光,并且用于在剪切力被施加在显示装置的表面处的触摸点时使示踪物中在触摸点周围的一些在剪切力的方向上移动,使得在显示装置的表面处的IR反射改变。
搜索关键词: 显示装置 用于 检测 表面 剪切 方法
【主权项】:
一种显示装置,包括:像素阵列,包括多个像素;可变形层,具有在所述像素上并平行于所述像素阵列的第一表面以及基本上平行于所述第一表面的第二表面;一个或多个红外发射器,用于发射红外光到所述可变形层中;多个红外探测器,用于检测红外光;以及在所述可变形层处的多个示踪物,用于使由所述一个或多个红外发射器发射的红外光朝向所述红外探测器重定向,并用于响应于在所述第二表面的触摸点处施加的具有一大小和一方向的剪切力而在所述剪切力的方向上移动,使得红外光在所述多个红外探测器中的红外探测器处的辐照度改变。
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