[发明专利]一种纳米颗粒检测系统及筛选分析方法有效
| 申请号： | 201510051342.0 | 申请日： | 2015-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN104568684B | 公开（公告）日： | 2017-06-27 |
| 发明（设计）人： | 王德强;黄成军;罗军;赵超;杜春雷;石彪 | 申请（专利权）人： | 中国科学院重庆绿色智能技术研究院 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所31219 | 代理人： | 李强 |
| 地址： | 400714 *** | 国省代码： | 重庆;85 |
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| 摘要： | 本发明提供一种纳米颗粒检测系统，包括筛选层和检测装置，筛选层上设有筛选通道，纳米颗粒从筛选通道一侧到另一侧，再由检测装置对通过筛选通道的颗粒进行检测。筛选层上设置多个筛选通道，形成通道阵列。每个筛选通道的最小口径设为a，筛选层上就设有不同a值的筛选通道，纳米颗粒尺寸小于对应a值的颗粒则通过该筛选通道。当大小不一的纳米颗粒混合在一起的时候，根据颗粒本身的大小选择通过适合尺寸的筛选通道，实现筛分。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 纳米 颗粒 检测 系统 筛选 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种纳米颗粒检测系统，其特征在于，包括筛选层和检测装置，筛选层上设有多个筛选通道，形成通道阵列，纳米颗粒从筛选通道一侧到另一侧，再由检测装置对通过筛选通道的颗粒进行检测，所述检测装置采用离子电流对纳米颗粒进行检测，得到输出信号，所述筛选通道的两侧均设有电极，两电极之间外接电源、开关和电流反馈装置，纳米颗粒通过筛选通道，与电极接触，电流反馈装置得到电流信号，所述筛选通道的最小口径为a，筛选层上设有不同a值的筛选通道，纳米颗粒尺寸小于对应a值的颗粒通过该筛选通道。
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