[发明专利]光学检测系统有效
申请号: | 201510037307.3 | 申请日: | 2015-01-26 |
公开(公告)号: | CN105890545B | 公开(公告)日: | 2018-03-20 |
发明(设计)人: | 余良彬;温光溥;王湧锋 | 申请(专利权)人: | 德律科技股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25 |
代理公司: | 北京中誉威圣知识产权代理有限公司11279 | 代理人: | 王正茂,丛芳 |
地址: | 中国台湾台北*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种光学检测系统,包含第一光学模块及第二光学模块。第一光学模块包含第一光源及第一影像撷取单元。第一光源具有第一光轴,第一影像撷取单元具有第一影像撷取轴。第一光轴与第一影像撷取轴相对于检测平面的法线呈对称。第一光轴与第一影像撷取轴的间形成第一角度。第二光学模块包含第二光源及第二影像撷取单元。第二光源具有第二光轴,第二影像撷取单元具有第二影像撷取轴。第二光轴与第二影像撷取轴相对于法线呈对称。第二光轴与第二影像撷取轴的间形成第二角度,且第二角度不同于第一角度。因此根据本发明的光学检测系统,即使待测物在检测平面上具有镜面,每一光源所发射的大部分光仍可被反射至对应的影像撷取单元。 | ||
搜索关键词: | 光学 检测 系统 | ||
【主权项】:
一种光学检测系统,用于检测待测物,其特征在于,所述光学检测系统包含:第一光学模块,其包含:第一光源,其具有第一光轴,所述第一光源所发射的光在所述待测物上产生第一条纹图案;以及第一影像撷取单元,其具有第一影像撷取轴,其中所述第一光轴与所述第一影像撷取轴相对于所述待测物上的检测平面的法线呈对称,并且所述第一光轴与所述第一影像撷取轴之间形成第一角度;以及第二光学模块,其包含:第二光源,其具有第二光轴,所述第二光源所发射的光在所述待测物上产生第二条纹图案;以及第二影像撷取单元,其具有第二影像撷取轴,其中所述第二光轴与所述第二影像撷取轴相对于所述法线呈对称,所述第二光轴与所述第二影像撷取轴之间形成第二角度,并且所述第二角度不同于所述第一角度。
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