[发明专利]一种基于复杂异形精测镜的精度测量方法有效
申请号: | 201510035890.4 | 申请日: | 2015-01-23 |
公开(公告)号: | CN105890517B | 公开(公告)日: | 2018-08-07 |
发明(设计)人: | 逯运通;李海飞;贺晓洋;张正峰;舒燕;张旭辉;柏江;王彤 | 申请(专利权)人: | 北京空间飞行器总体设计部 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100094 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于复杂异形精测镜的航天器精测方法,该方法通过设置复杂的精测镜面将密闭舱内部设备的精测光路引出,从而实现密闭舱体内高精度设备在整器合舱状态下的精度测量。该方法可以使高精度设备的精测状态与飞行状态趋于一致,消除了传统密闭航天器在开舱门或分舱段拉高状态下测量舱内设备带来的精度误差,保证了精测数据的有效性。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 复杂 异形 精测镜 精度 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于复杂异形精测镜的精度测量方法,其特征在于,包括以下步骤:1)将安装于高精度设备上的正六面体精测镜上加工两个斜反射面A、B,形成所述的异形精测镜,所述的斜反射面A、B的外法向线与设备的机械本体坐标系有一定夹角要求,该夹角的角度使在整器合舱的状态下将所述的斜反射面A、B的精测光路从航天器表面已有的操作口或者航天器表面设备安装口引出;所述的斜反射面A面法线、斜反射面B面法线组成的平面为C面;所述的斜反射面B面法线、C面法线组成的平面为D面;所述的斜反射面B面法线、C面法线和D面法线构成的坐标系为斜置坐标系;单机状态下设定设备异形精测镜的斜反射面A、B外法向线与设备机械本体坐标的夹角,通过所述的夹角得到在设备机械本体坐标系中的异形精测镜斜反射面A面法线矢量aj、斜反射面B面法线矢量bj、C面法线矢量cj和D面法线矢量bj,计算得到所述的斜置坐标系到设备机械本体坐标系的转换矩阵;所述的高精度设备是指对安装位置和安装姿态均有较高要求的设备;2)航天器整器合舱状态下测量设备异形精测镜的斜反射面A面、斜反射面B面的外法向线与整器机械坐标系的夹角,通过所述的夹角得到在整器机械坐标系中的异形精测镜斜反射面A面法线矢量ae、斜反射面B面法线矢量be、C面法线矢量ce和D面法线矢量de,计算得到所述的斜置坐标系到整器机械坐标系的转换矩阵;3)根据步骤1)的斜置坐标系到设备机械本体坐标系的转换矩阵和步骤2)的斜置坐标系到整器机械坐标系的转换矩阵,计算得到设备机械本体坐标系到整器机械坐标系的转换矩阵,从而得到精确测量结果。
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