[发明专利]射频测试座有效
| 申请号： | 201480079388.7 | 申请日： | 2014-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN106415292B | 公开（公告）日： | 2020-03-31 |
| 发明（设计）人： | 黄涛 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 马爽 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种射频测试座，包括：绝缘材料形成的内腔、测试孔，位于内腔中的接触片、第一引脚和第二引脚，其中，所述第一引脚和所述第二引脚分别与单板上的电路电连接，所述第一引脚与所述接触片固定连接，所述第二引脚与所述与所述接触片接触连接，所述内腔和所述测试孔互相连通，测试状态下测试探针从所述测试孔伸入至所述内腔，并与所述接触片接触，形成电连接，所述射频测试座的所述内腔设置有可打开的隔离片，用于防止外界异物进入所述内腔。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 测试 | ||
【主权项】：
PCT国内申请，权利要求书已公开。
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