[发明专利]高分辨率扫描显微术有效
申请号: | 201480051234.7 | 申请日: | 2014-07-18 |
公开(公告)号: | CN105556370B | 公开(公告)日: | 2018-09-11 |
发明(设计)人: | I.克莱普;Y.诺维考;C.尼滕;R.内茨 | 申请(专利权)人: | 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 |
主分类号: | G02B21/00 | 分类号: | G02B21/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 侯宇 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及一种用于对样本(2)进行高分辨率扫描显微术的显微镜和方法,所述显微镜具有‑用于对样本(2)进行照明的照明装置(3),‑成像装置(4),用于在样本(2)上扫描至少一个点光斑或线光斑(14)并且用于在考虑成像比例的条件下在探测层面(18)内将点光斑或线光斑(14)成像为衍射受限的、静止的单个图像(17),‑探测器装置(19),用于对于不同的扫描位置以位置分辨率采集探测层面(18)内的单个图像(17),所述位置分辨率在考虑成像比例的情况下在至少一个延伸/维度上至少是衍射受限的单个图像(17)的半值宽度的两倍,‑分析装置(C),用于根据探测器装置(19)的数据对于扫描位置分析单个图像(17)的衍射结构并且用于产生样本(17)的图像,所述图像的分辨率超过衍射极限,其中,‑探测器装置(19)具有:‑探测器阵列(24),所述探测器阵列具有像素(25)并且大于单个图像(17),和‑不成像的再分配元件(20‑21;30‑34;30‑35),其布置在探测器阵列(24)上游并且将来自探测层面(18)的射线以不成像的方式分配到探测器阵列(24)的像素(25)上,‑其中,在调整回路中,通过根据调整信号切换再分配元件和/或调节用于适配图像尺寸的变焦光学器件/聚焦光学器件和/或联合探测器阵列的单个像素来进行调整,‑其中,该调整包含了图像对比度和/或图像清晰度和/或信噪比来作为调整参量。 | ||
搜索关键词: | 高分辨率 扫描 显微 | ||
【主权项】:
1.一种用于对样本(2)进行高分辨率扫描显微术的显微镜,具有‑用于对样本(2)进行照明的照明装置(3),‑成像装置(4),用于在样本(2)上扫描至少一个点光斑或线光斑(14)并且用于在探测层面(18)内将所述点光斑或线光斑(14)成像为衍射受限的、静止的单个图像(17),‑探测器装置(19),用于对于不同的扫描位置以位置分辨率采集探测层面(18)内的单个图像(17),‑分析装置(C),用于根据探测器装置(19)的数据对于扫描位置分析单个图像(17)的衍射结构并且用于产生样本(2)的图像,所述图像的分辨率超过衍射极限,其中,‑探测器装置(19)具有:‑探测器阵列(24),所述探测器阵列具有像素(25)并且大于单个图像(17),和‑多个不成像的再分配元件(20‑21;30‑34;30‑35),所述再分配元件布置在探测器阵列(24)上游并且将来自探测层面(18)的射线以不成像的方式分配到探测器阵列(24)的像素(25)上,其中,所述多个再分配元件是纤维束,它们在纤维数量和/或纤维布局和/或纤维直径和/或纤维横截面的形状方面不同,其中,至少两个来自不同再分配元件的光导纤维终结于相同的像素,并且其中,将再分配元件布置为能摆动到或能推移到用于探测样本光的光轴中。
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