[发明专利]在用于检测多聚靶分子的基于颗粒的测试中防止聚集的试剂、方法和设备有效
| 申请号： | 201480044234.4 | 申请日： | 2014-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN105579849B | 公开（公告）日： | 2019-02-22 |
| 发明（设计）人： | T.H.埃维斯;M.W.J.普林斯;J.H.纽文休伊斯 | 申请（专利权）人： | 微型照顾私人有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/543 | 分类号： | G01N33/543 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人： | 许志勇;王宁 |
| 地址： | 荷兰艾恩德霍芬*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及在用于检测样品中包含两个或多个类似或相同表位的多表位靶分析物和/或用于确定样品中多表位靶分析物的浓度的测试中防止检测颗粒聚集的方法，其中所述方法包括应用能够特异性结合到多表位分析物上的至少一个表位的第一捕获实体的步骤，其特征在于所述第一捕获实体阻断至少一个表位结合到检测颗粒。本发明进一步涉及其中多表位靶分析物的检测包括使用第二捕获实体的方法，所述第二捕获实体可以如第一捕获实体那样特异性结合到多表位靶分析物的相同或相似表位。还预期到用于检测所述多表位靶分析物的方法，该方法在包括传感器表面的系统中的执行并且使用第一捕获实体以阻断至少一个表位结合到检测颗粒，诸如磁检测颗粒。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 多聚靶 分子 基于 颗粒 测试 防止 聚集 试剂 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用于在测试中防止检测颗粒聚集的方法，所述测试使用检测颗粒来用于检测样品中包含两个或更多个相似或相同表位的多表位靶分析物的存在和/或用于确定样品中包含两个或更多个相似或相同表位的多表位靶分析物的浓度，所述方法包括以下步骤：应用能够特异性结合到所述多表位靶分析物上的至少一个表位的第一捕获实体，其特征在于所述第一捕获实体阻断至少一个表位结合到检测颗粒，其中所述多表位靶分析物的所述检测包括使用第二捕获实体，其能够如第一捕获实体那样特异性结合到所述多表位靶分析物的相同或相似表位，其中第二捕获实体包含准许第二捕获实体结合到所述检测颗粒的标记，或者其中所述第二捕获实体存在于所述检测颗粒上。
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