[实用新型]氧化镁涂覆量的测定装置有效
| 申请号： | 201420688631.2 | 申请日： | 2014-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN204203130U | 公开（公告）日： | 2015-03-11 |
| 发明（设计）人： | 张俊鹏;邱忆;黄双;向前;李忠武;张婷婷;张旭;叶国民;徐利军 | 申请（专利权）人： | 武汉钢铁（集团）公司 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20 |
| 代理公司： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人： | 胡镇西 |
| 地址： | 430080 湖北省武汉市武昌*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型设计的氧化镁涂覆量的测定装置，包括机架，其特征在于：所述机架上设有容置试样的试样槽；所述试样槽的上方或下方设有平行所述试样槽的滑轨，所述滑轨上设有涂覆量检测仪，所述涂覆量检测仪在驱动单元驱动下在滑轨上往复运动；所述涂覆量检测仪包括一端开口壳体，所述壳体内设有X射线发生器和探测X射线经试样表面反射的X光强的X射线检测器。使破坏性试验变为非破坏性试验可进行重复测量；检测速度快完成三点测量仅需一分钟，而传统重量法需要十分钟；减少重量法测试过程中粉尘飞扬的情况，利于保护实验室环境；方法简便减少劳动强度。 | ||
| 搜索关键词： | 氧化镁 涂覆量 测定 装置 | ||
【主权项】：
一种氧化镁涂覆量的测定装置，包括机架(1)，其特征在于：所述机架(1)上设有容置试样的试样槽(2)；所述试样槽(2)的上方或下方设有平行所述试样槽(2)的滑轨(3)，所述滑轨(3)上设有涂覆量检测仪(4)，所述涂覆量检测仪(4)在驱动单元(5)驱动下在滑轨(3)上往复运动；所述涂覆量检测仪(4)包括一端开口壳体(4.1)，所述壳体(4.1)内设有X射线发生器(4.2)和探测X射线经试样表面反射的X光强的X射线检测器(4.3)。
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