[实用新型]用于检测基材的基材缺陷检测装置有效

专利信息
申请号: 201420653472.2 申请日: 2014-11-04
公开(公告)号: CN204214788U 公开(公告)日: 2015-03-18
发明(设计)人: 许轩兢 申请(专利权)人: 香港商微觉视检测技术股份有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;吴孟秋
地址: 中国*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 实用新型涉及能通过线性影像撷取单元取得的基材表面影像来判断基材表面是否有缺陷的存在的用于检测基材的基材缺陷检测装置,其包括一光源模块、一检测模块及一控制模块。光源模块用于产生一照射在位于一检测区域内的基材上的检测光源,光源模块具有一第一发光面及一第二发光面,第一发光面及第二发光面之间具有一暗区范围。检测模块与光源模块彼此相对应设置,检测模块包括一用于撷取位于检测区域内的基材的影像信息的线性影像撷取单元,线性影像撷取单元具有一等于或大于暗区范围的截取范围。控制模块电性连接于检测模块,以接收检测模块所撷取到的影像信息,影像信息通过控制模块的运算,以得到一位于基材上的瑕疵区域的一瑕疵信息。
搜索关键词: 用于 检测 基材 缺陷 装置
【主权项】:
一种用于检测基材的基材缺陷检测装置,其特征在于,其包括:一光源模块,所述光源模块用于产生一照射在位于一检测区域内的所述基材上的检测光源,所述光源模块具有一第一发光面及一第二发光面,且所述第一发光面及所述第二发光面之间具有一暗区范围;一检测模块,所述检测模块与所述光源模块彼此相对应设置,所述检测模块包括一用于撷取位于所述检测区域内的所述基材的影像信息的线性影像撷取单元,其中所述线性影像撷取单元具有一等于或大于所述暗区范围的截取范围;以及一控制模块,所述控制模块电性连接于所述检测模块,以接收所述检测模块所撷取到的所述影像信息,其中所述影像信息通过所述控制模块的运算,以得到一位于所述基材上的瑕疵区域的一瑕疵信息;其中,所述第一发光面及所述第二发光面两者其中之一通过所述瑕疵区域,以偏折投射在所述线性影像撷取单元的所述截取范围中。
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