[实用新型]一种FPGA基本性能测试装置有效
申请号: | 201420629925.8 | 申请日: | 2014-10-28 |
公开(公告)号: | CN204256085U | 公开(公告)日: | 2015-04-08 |
发明(设计)人: | 宋恒 | 申请(专利权)人: | 陕西千山航空电子有限责任公司 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02;G01R31/3181 |
代理公司: | 中国航空专利中心 11008 | 代理人: | 张奕轩 |
地址: | 710065 陕西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本实用新型属于电子技术类,涉及一种FPGA器件基本性能测试装置,主要包括过流保护电路、电源转换电路、BGA测试插座,FPGA外围电路、I/O测试电路、指示灯电路等。用于快速测量FPGA基本性能,包括上电引导、I/O引脚短路开路测试。由+5V电源适配器通过USB接口为检测工装供电,BGA测试插座用于固定被测芯片,测试时将被测芯片装在BGA插座上。FPGA外围电路包含PROM及外围引导电路,PROM存放测试程序。I/O测试电路针对FPGA通用I/O特性,设计I/O输出输入驱动电路,对每个FPGA引脚输出输入特性进行测试。本测试装置检测FPGA芯片基本性能,用于芯片质量控制,保证后续生产顺利进行。 | ||
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【主权项】:
一种FPGA芯片基本性能检测装置,其特征在于,包括过流保护电路[1]、电压转换电路[2]、BGA测试插座[3],FPGA外围电路[4]、I/O测试电路[5]、指示灯电路[6],所述的过流保护电路[1]与电压转换电路[2]相连,所述电压转换电路[2]输出为FPGA正常工作所需的电压,所述的BGA测试插座[3]提供被测芯片测试装置之间电气连接,FPGA外围电路[4]和I/O测试电路[5]连接到被测芯片,FPGA外围电路[4]包含PROM及FPGA引导电路,PROM存放测试程序,I/O测试电路[5]由激励信号驱动电路和串接电路组成,激励信号驱动电路为SNJ54HC244J驱动器;指示灯电路[6]包括看门狗电路和指示灯驱动电路,用于显示测试结果。
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