[实用新型]双波长同步测试的插损回损测试仪有效
| 申请号： | 201420158837.4 | 申请日： | 2014-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN203883841U | 公开（公告）日： | 2014-10-15 |
| 发明（设计）人： | 周永军 | 申请（专利权）人： | 镇江奥菲特光电科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/075 | 分类号： | H04B10/075 |
| 代理公司： | 镇江京科专利商标代理有限公司 32107 | 代理人： | 夏哲华 |
| 地址： | 212132 江苏省镇*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种双波长同步测试的插损回损测试仪。它包括中央处理器，中央处理器分别通过一个1310nm光发射模块和一个1550nm光发射模块连接到波分复用器上，波分复用器信号的输出端连接光分路器，光分路器的输出端连接到被测跳线的前端面上，光分路器的回损信号端连接回损测试模块；回损测试模块直接与中央处理器进行信息传输。采用上述的结构后，光发射模块的发射信号能够通过波分复用器传输到光分路器，然后经过接头和测试线到被测跳线的前端面，CPU连接回损测试模块，由此可通过与CPU联动的方式，轮流发射1310nm、1550nm脉冲信号，同时进行1310nm和1550nm波长的测试，实现了同时测试光纤跳线在1310nm和1550nm两个波长的光学性能，极大地提升产品测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 波长 同步 测试 插损回损 测试仪 | ||
【主权项】：
一种双波长同步测试的插损回损测试仪，其特征在于：包括中央处理器，中央处理器分别通过一个1310nm光发射模块和一个1550nm光发射模块连接到波分复用器上，所述波分复用器信号的输出端连接光分路器，所述光分路器的输出端连接到被测跳线的前端面上，光分路器的回损信号端连接回损测试模块；所述回损测试模块直接与中央处理器进行信息传输。
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