[实用新型]集成电路测试压紧装置有效
| 申请号： | 201420047113.2 | 申请日： | 2014-01-24 |
| 公开（公告）号： | CN203705475U | 公开（公告）日： | 2014-07-09 |
| 发明（设计）人： | 王国华 | 申请（专利权）人： | 深圳市斯纳达科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳国鑫联合知识产权代理事务所(普通合伙) 44324 | 代理人： | 王志强 |
| 地址： | 518100 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种集成电路测试压紧装置，涉及集成电路测试测试领域。该集成电路测试压紧装置包括摆动块、弹性件、压块和空芯管；所述弹性件放置在所述摆动块和所述压块之间；压块上设置有深定位槽和转位孔，转位孔设置在压块的侧面并贯穿压块，深定位槽与转位孔垂直，弹性件放置在深定位槽内，弹性件的自然长度超过该深定位槽的深度；摆动块上设置有空腔，空腔的两侧设置有位置相对的圆孔，压块被扣合在摆动块的空腔内，空腔内与弹性件接触的顶部设置有浅定位槽；空芯管穿过摆动块上的圆孔和压块上的转位孔。本实用新型能自由摆动及伸缩，可适应不同厚度的集成电路的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 压紧 装置 | ||
【主权项】：
集成电路测试压紧装置，其特征在于：该集成电路测试压紧装置包括摆动块、弹性件、压块和空芯管；所述弹性件放置在所述摆动块和所述压块之间；压块上设置有深定位槽和转位孔，转位孔设置在压块的侧面并贯穿压块，深定位槽与转位孔垂直，弹性件放置在深定位槽内，弹性件的自然长度超过该深定位槽的深度；摆动块上设置有空腔，空腔的两侧设置有位置相对的圆孔，压块被扣合在摆动块的空腔内，空腔内与弹性件接触的顶部设置有浅定位槽；空芯管穿过摆动块上的圆孔和压块上的转位孔。
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