[发明专利]双能射线检查系统物质识别及其分类参数处理方法与装置有效
申请号: | 201410849920.0 | 申请日: | 2014-12-31 |
公开(公告)号: | CN105806857B | 公开(公告)日: | 2019-02-19 |
发明(设计)人: | 陈志强;赵自然;刘耀红;顾建平;郑娟;刘必成;徐光明 | 申请(专利权)人: | 同方威视技术股份有限公司 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G01V5/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 王莉莉 |
地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开一种双能射线物质识别及其检查系统分类参数处理方法和装置。该方法包括:获得标定材料在预定射线角度下与透明度对应的角分布差异系数;基于标定材料的预定射线角度的角分布差异系数对标定材料在主束方向的分类参数进行调整,从而获得标定材料在预定射线角度的分类参数。本发明公开的方法和装置,通过角分布差异系数对不同射线角度的分类参数进行有效调整,从而提高各个射线角度的双能材料分辨效果,充分发挥双能射线检查设备的性能,进一步提高产品的竞争力和用户体验。 | ||
搜索关键词: | 射线 检查 系统 物质 识别 及其 分类 参数 处理 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种双能射线检查系统分类参数处理方法,其特征在于,包括:获得标定材料在预定射线角度下与第一射线透明度对应的第二射线的角分布差异系数;基于所述标定材料的所述预定射线角度的角分布差异系数对所述标定材料在主束方向的分类参数进行调整,从而获得所述标定材料在所述预定射线角度的分类参数。
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