[发明专利]基于微波光子混频技术的微波源相位噪声测试方法及装置

摘要

本发明公开一种基于微波光子混频技术的微波源相位噪声测试方法及装置，包括微波源、微波功分器、微波移相器、沿光路方向依次连接的激光源、第一电光调制器、光纤、第二电光调制器、光带通滤波器、光电探测器、电低通滤波器和FFT分析仪；微波源产生的待测微波信号由微波功分器分成两路，一路信号经第一电光调制器调制生成初始调制光信号；另一路信号经过微波移相器后进入第二电光调制器对光纤延时后的初始调制光信号进行调制，所得到的最终的调制光信号依次通过光带通滤波器、光电探测器、低通电滤波器；低通电滤波器输出信号由FFT分析仪采集，计算得到待测微波信号的相位噪声。本发明具有工作带宽大、测试灵敏度高且不随频率变化等优点。

主权项

基于微波光子混频技术的微波源相位噪声测试装置，其特征在于：包括微波源、微波功分器、微波移相器、激光源、第一电光调制器(1)、光纤、第二电光调制器(2)、光带通滤波器、光电探测器、电低通滤波器和FFT分析仪；所述激光源的输出端连接第一电光调制器(1)的输入端，第一电光调制器(1)的输出端通过光纤连接第二电光调制器(2)的输入端；所述微波源的输出端与微波功分器的输入端连接；所述微波功分器有两个输出端：其中一个输出端与第一电光调制器(1)的驱动信号输入端相连接，另一个输出端和微波移相器输入端连接；所述微波移相器的输出端与第二电光调制器(2)的驱动信号输入端连接；沿第二电光调制器(2)的输出信号方向依次连接光带通滤波器、光电探测器、电低通滤波器和FFT分析仪。