[发明专利]包括具有内部校准信号的配件的测量系统有效
| 申请号： | 201410787366.8 | 申请日： | 2014-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN104729539B | 公开（公告）日： | 2019-12-10 |
| 发明（设计）人： | M.J.门德;R.A.布曼 | 申请（专利权）人： | 特克特朗尼克公司 |
| 主分类号： | G01D3/00 | 分类号： | G01D3/00;G01D18/00 |
| 代理公司： | 72001 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 张凌苗;陈岚 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供了包括具有内部校准信号的配件的测量系统。一种用于与测试和测量仪器一起使用的配件。该配件包括用来接收来自处于测试当中的设备的信号的输入、被配置成应用在配件内部的校准或补偿信号的校准单元、以及用来将来自处于测试当中的设备的信号或者校准或补偿信号输出到测试和测量仪器的输出。 | ||
| 搜索关键词： | 包括 具有 内部 校准 信号 配件 测量 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于与测试和测量仪器一起使用的电压探针，包括：/n输入，用来接收来自处于测试当中的设备的信号；/n校准单元，被配置成应用在所述电压探针内部的校准或补偿信号；/n输出，用来将来自处于测试当中的设备的信号或者校准或补偿信号输出到测试和测量仪器；以及/n光学电压传感器，其中用来接收来自处于测试当中的设备的信号的所述输入连接到所述光学电压传感器的信号输入电极，并且所述校准单元连接到所述光学电压传感器的控制电极。/n
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