[发明专利]测试包含多个相位旋转器的集成电路设计在审
| 申请号： | 201410736228.7 | 申请日： | 2014-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN104778295A | 公开（公告）日： | 2015-07-15 |
| 发明（设计）人： | R.G.杰罗维茨;S.B.希金斯;J.A.亚丹扎 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邸万奎 |
| 地址： | 美国纽*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明提供了用于测试相位旋转器的电路、系统和方法。用于测试相位旋转器的电路包括比较元件，其包括第一输入端和第二输入端，其中所述比较元件被配置为将提供在所述第一输入端的第一信号的第一相位与提供在所述第二输入端的第二信号的第二相位进行比较。所述电路还包括连接到所述第一输入端的第一测试总线以及连接到所述第二输入端的第二测试总线。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 包含 相位 旋转 集成电路设计 | ||
【主权项】：
一种用于测试相位旋转器的电路，包括：比较元件，包括第一输入端和第二输入端，其中所述比较元件被配置为将提供在所述第一输入端的第一信号的第一相位与提供在所述第二输入端的第二信号的第二相位进行比较；第一测试总线，连接到所述第一输入端；以及第二测试总线，连接到所述第二输入端。
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