[发明专利]一种光子带隙光纤陀螺中光纤环熔接点反射的测量装置及方法

摘要

本发明公开了一种光子带隙光纤陀螺中光纤环熔接点反射的测量装置及方法，测量装置包括激光光源、耦合器、Y波导、光子带隙光纤环、探测器、信号发生器、示波器；激光光源的输出尾纤与耦合器的O1尾纤采用法兰盘对接，耦合器的O2端与探测器尾纤熔接，耦合器的O3端与Y波导输入尾纤熔接，Y波导输出尾纤设有端面A和端面B，根据测量需要，选择端面A或者端面B与光子带隙光纤环尾纤熔接，熔点分别为A或者B，信号发生器为Y波导提供调制信号，利用示波器检测探测器信号。本发明提出了采用锯齿波调制的光子带隙光纤陀螺熔点反射的测量方法；本发明能实时测量熔接过程中光纤环熔点的反射，实现对熔点质量在线检测。

主权项

一种光子带隙光纤陀螺中光纤环熔接点反射的测量装置，包括激光光源、耦合器、Y波导、光子带隙光纤环、探测器、信号发生器、示波器；激光光源的输出尾纤与耦合器的O1尾纤采用法兰盘对接，耦合器的O2端与探测器尾纤熔接，耦合器的O3端与Y波导输入尾纤熔接，Y波导输出尾纤设有端面A和端面B，根据测量需要，选择端面A或者端面B与光子带隙光纤环尾纤熔接，熔点分别为A或者B，信号发生器为Y波导提供调制信号，利用示波器检测探测器信号；基于所述装置的一种光子带隙光纤陀螺中光纤环熔接点反射的测量方法，其特征在于，当对光纤环熔接进行在线测量时，具体为：激光光源输出的光经过耦合器输入到Y波导，信号发生器通过Y波导对光进行锯齿波调制，在熔接熔点A之前，测量反射光强IC；在熔接熔点A点时，熔点产生的反射光强IA对应的反射光再次经过Y波导调制后与耦合器C端反射光强IC对应的反射光发生干涉，通过示波器观测探测器输出，此时信号峰‑峰值为V1；熔点A反射光强IA计算公式如下：IA＝(V1/4)2/IC在熔接熔点B时，掐断耦合器C端反射，反射光强IA、IB对应的两束反射光再次经过Y波导调制后发生干涉，通过示波器观测两束光波的干涉信号，此时的最大峰‑峰值为V2；熔点B反射光强IB计算公式如下：IB＝(V2/4)2/IA当测量已装配完成的光子带隙光纤陀螺中熔点反射强度，具体为：激光光源输出的光经过耦合器输入到Y波导，信号发生器通过Y波导对光进行锯齿波调制，在熔点A、熔点B产生的反射光强IA、IB对应的两束反射光再次经过Y波导调制后与耦合器C端反射光强IC对应的反射光发生干涉，通过示波器观测三束光波的干涉信号，此时的最大峰‑峰值为V3；将耦合器C端反射点掐断，抑制耦合器C端点反射光，测量此时信号峰‑峰值为V4；熔点A、熔点B反射光满足如下方程：2IA·IC+2IB·IC=V3/22IA·IB=V4/2]]>根据以上方程，得到熔点A、熔点B的反射光强如下：