[发明专利]基于纳米带集成基片的可视化激光功率探测器及测量方法无效
申请号: | 201410683390.7 | 申请日: | 2015-08-04 |
公开(公告)号: | CN104501950A | 公开(公告)日: | 2015-07-29 |
发明(设计)人: | 刘瑞斌;宋广立;郭帅 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G01J1/58 | 分类号: | G01J1/58 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100081 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及基于纳米带集成基片的可视化激光功率探测器及测量方法,属于光电探测领域。通过可控的化学气相沉积方法在单基片上合成锌掺杂的硫化镉纳米带,利用功率可调的紫外激光器定标,完成不同功率下纳米结构基片对应的光致发光光谱的测量以及对应显示颜色,可实现从紫外到蓝绿光波段注入激光功率的精确探测以及通过在微区范围内实时的颜色变化可实现对入射激光功率以及光斑功率分布情况的可视化实时监测。与现有的市场化的功率探测器相比,其具有探测材料制作成本低廉,无需外部电压激励源,没有热的积累,无需复杂高成本的信号转换模块,具有更好的环境适应性,可实时观测等优势,特别是在微区光功率的评定方面,可以实现大功率密度无损伤实时感知。 | ||
搜索关键词: | 基于 纳米 集成 可视化 激光 功率 探测器 测量方法 | ||
【主权项】:
基于纳米带集成基片的可视化激光功率探测器,其特征在于:以锌掺杂的硫化镉纳米带为材料,其中锌的掺杂浓度在2%以内。
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