[发明专利]一种快速判定植株光强和温度适应范围的方法及其装置

摘要

本发明公开了一种快速判定植株光强和温度适应范围的方法，此方法主要基于离体叶片经不同温度和及光强的处理，随后经过一定时间的暗恢复，期间动态监测叶片F_v/F_m荧光参数值，通过绘制处理条件下的F_v/F_m荧光动力学曲线及分析样本处理后F_v/F_m的下降比值与恢复后F_v/F_m的上升比值确定植株植株不可逆光损伤的温度范围。本发明不破坏植物生长，便于在不同温度和光照条件下平行的检测植株叶片光损伤及恢复的状况，进而确定植株光强和温度适应范围并判断不同植株抗性差异。本发明还公开了一种实现快速判定植株光强和温度适应范围的方法的装置，通过改变光源与样品间距离实现光照强度的控制，可以实现对光照强度的连续的控制且在光强改变的同时保证光质恒定不变。

主权项

 一种快速判定植株光强和温度适应范围的方法，其特征是，包括如下的步骤：（1）待测样品的采集：选择正常生长植株上的幼龄叶片，用打孔器截取大小一致的叶圆片；（2）植株叶片的处理：将待测的叶圆片置于精确控制光照强度的水浴锅的网格载物板上，经过不同光照和温度的胁迫处理后，在常温和黑暗的条件下进行暗恢复；（3）荧光参数的测定：在胁迫处理和暗恢复的不同的时间点，取出叶圆片，采用FMS‑2便携脉冲调试式荧光仪测定叶圆片暗适应后的荧光参数初始荧光F₀和最大荧光产量F_m，并绘制荧光动力学曲线；（4）光照及温度适应范围的确定：利用公式F_v/F_m= (F_m‑F₀)/F_m，在不同温度和光照条件下，比较处理前至处理后F_v/F_m的下降比值与处理后至恢复后Fv/Fm的上升比值，如果这两个值之间存在显著的差异，则在上述的条件下植株遭受的光损伤不能在暗适应的条件下恢复，则确定此温度和光强值超出植株的适应范围。