[发明专利]一种树木叶面尘土量的确定方法及系统有效

专利信息
申请号: 201410525056.9 申请日: 2014-10-08
公开(公告)号: CN104374711A 公开(公告)日: 2015-02-25
发明(设计)人: 吴春燕;王雪峰 申请(专利权)人: 中国林业科学研究院资源信息研究所
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25
代理公司: 北京市商泰律师事务所 11255 代理人: 毛燕生
地址: 100091 北京市海淀区颐和*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种树木叶面尘土量的确定方法及系统,属于测量和计算机技术领域。包括以下步骤:建立预估方程并确定方程参数:采集叶片样本;用万分之一电子天平称取叶片重量;用便捷式光谱仪测量叶片除尘前的反射光谱;用去离子水洗净叶片表面尘土;称取叶片除尘后的重量;用同样的方法测量叶片除尘后的反射光谱;获取光谱参数并建立光谱与叶面尘土量之间的关系;根据本发明,可不用高精度的电子天平只通过便捷式光谱仪就可实现叶面尘土量的测定,因此,本发明只需要普通的光谱仪就可估算叶面尘土量,极其适于植物受污染程度的估测及雾霾防治措施的优选工作。
搜索关键词: 一种 树木 叶面 尘土 确定 方法 系统
【主权项】:
一种树木叶面尘土量的确定方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1)、建立预估方程并确定方程参数:步骤1:采集叶片样本;步骤2、用万分之一电子天平称取叶片重量;步骤3、用便捷式光谱仪测量叶片除尘前的反射光谱;步骤4:用去离子水洗净叶片表面尘土;步骤5:称取叶片除尘后的重量;步骤6:用同样的方法测量叶片除尘后的反射光谱;步骤7、获取光谱参数并建立光谱与叶面尘土量之间的关系;步骤2)、利用光谱数据估计叶面尘土量;步骤8、获取叶片反射光谱值;步骤9、从叶片的反射光谱值中获得光谱参数;步骤10、根据光谱参数利用叶面尘土量预估模型确定叶面尘土量;步骤①、计算初始尘土量y0;步骤②、根据y0按着分级原则确定虚拟变量k1,k2;步骤③、根据预估方程估计叶面尘土量,进一步,可以进行污染评测分级。
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