[发明专利]平面变栅距光栅的优化设计方法无效
申请号: | 201410521344.7 | 申请日: | 2014-09-30 |
公开(公告)号: | CN104297829A | 公开(公告)日: | 2015-01-21 |
发明(设计)人: | 巴音贺希格;姜岩秀;李文昊;杨硕;赵旭龙;吴娜 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G02B5/18 | 分类号: | G02B5/18 |
代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人: | 陶尊新 |
地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 平面变栅距光栅的优化设计方法,涉及光谱技术领域,解决现有方法制作的变栅距光栅的刻线密度函数与期望刻线密度函数存在较大的误差的问题,利用球面波曝光系统,获得平面变栅距光栅的子午线期望刻线密度函数,根据变栅距光栅的光程函数,获得平面光栅的离焦,子午彗差,球差,根据光栅方程、期望刻线密度函数和离焦F20,子午彗差F30和球差F40的值,令变栅距光栅聚焦,彗差以及球差等于零,获得平面变栅距光栅的期望刻线密度函数系数优化球面波记录参数,将光栅基底表面各点期望刻线密度与设计刻线密度误差的平方的积分函数作为目标函数进行优化,并求得最小值,实现平面变栅距光栅的优化设计;本发明缩短计算时间,提高运算效率。 | ||
搜索关键词: | 平面 变栅距 光栅 优化 设计 方法 | ||
【主权项】:
平面变栅距光栅的优化设计方法,其特征是,该方法由以下步骤实现:步骤一、利用球面波曝光系统,获得平面变栅距光栅的子午线期望刻线密度函数,用公式表示为:![]()
式中,n10、n20、n30和n40为系数期望刻线密度函数的系数;步骤二、根据变栅距光栅的光程函数F,获得平面光栅的离焦F20,子午彗差F30,球差F40,F用公式表示为:F=rC+rD+yF10+y2F20+y3F30+y4F40![]()
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上式中,m为衍射级次+1级,α为使用角度,β为衍射角度,r1为入臂长度,r2为出臂长度,λ为波长;步骤三、根据光栅方程、步骤一中期望刻线密度函数和步骤二中离焦F20,子午彗差F30和球差F40的值,令变栅距光栅聚焦F20=0,彗差F30=0以及球差F40=0,即用公式表示为:![]()
对上式求解,获得平面变栅距光栅的期望刻线密度函数系数n10、n20、n30、n40,所述n10、n20、n30、n40的值用公式表示为:![]()
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式中,γ和δ角为分别为球面波通过光栅基底中心点的光线与光栅基底法线的夹角,并与rC和rD共同作为球面波记录参数(γ,rC,δ,rD);步骤四、优化球面波记录参数(γ,rC,δ,rD),将光栅基底表面各点期望刻线密度与设计刻线密度误差的平方的积分函数作为目标函数进行优化,并求得最小值,实现平面变栅距光栅的优化设计;所述目标函数obj用公式表示为:![]()
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式中,y0为光栅半宽度,k1,k2,k3,k4为设计刻线密度系数与期望刻线密度系数的误差。
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