[发明专利]一种DMI总线信号完整性测试方法有效

专利信息
申请号: 201410411548.5 申请日: 2014-08-20
公开(公告)号: CN104182317A 公开(公告)日: 2014-12-03
发明(设计)人: 贾永涛 申请(专利权)人: 浪潮电子信息产业股份有限公司
主分类号: G06F11/26 分类号: G06F11/26
代理公司: 济南信达专利事务所有限公司 37100 代理人: 张靖
地址: 250014 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种DMI总线信号完整性测试方法,在设计的板卡上增加一个CPUXDP接口,通过该接口形成一个完整的DMI数据采集回路;测试软件使用IntelEVTS,通过USB-XDP3实现测试软件和被测平台的连接;通过测试软件不断调整电压及时序,找出电压的余量和时序的余量,再根据Intel规范中,对电压及时序余量值的要求,来确认实际DMI信号是否符合设计要求。该测试方法不像传统的测试方法依赖示波器,仅用一个XDP治具和测试软件便能完成测试,相对于用示波器进行测试,这种方法大大减小了人为操作带来的误差,提升了测试的准确度;且一次就可以把4条数据线测试完成,避免了重复操作,提高了测试效率。
搜索关键词: 一种 dmi 总线 信号 完整性 测试 方法
【主权项】:
一种DMI总线信号完整性测试方法,其特征在于:在设计的板卡上增加一个CPU XDP接口,通过该接口形成一个完整的DMI数据采集回路;测试软件使用Intel EVTS,通过USB‑XDP3实现测试软件和被测平台的连接;通过测试软件不断调整电压及时序,如果电压调整到某一个值后接收到的数据和发送的数据不一致,那就表明在这个电压下DMI工作出现异常;第一个出现的不能正常工作的电压即为电压的余量;如果时序调整到某一个值后接收到的数据和发送的数据不一致,那就表明在这个时序下DMI工作出现异常;第一个出现的不能正常工作的时序即为时序的余量;然后再根据Intel规范中,对电压及时序余量值的要求,来确认实际DMI信号是否符合设计要求。
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