[发明专利]一种针对高速信号损耗测试的设计在审
| 申请号： | 201410388986.4 | 申请日： | 2014-08-08 |
| 公开（公告）号： | CN104133117A | 公开（公告）日： | 2014-11-05 |
| 发明（设计）人： | 王素华;李鹏翀 | 申请（专利权）人： | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 无 | 代理人： | 无 |
| 地址： | 250101 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种针对高速信号损耗测试的设计，测试时，线宽和间距需要根据实际高速信号线的阻抗以及所在的层设计；测试QPI，PCIE总线的测试板情况：阻抗为85欧姆，板材为IT180A，线宽为5MIL，对间间距为7MIL，采用10度走线方式，传输线线长需要8INCH；传输线在表层、第三层以及第六层都有分布；设计测试板时，需保证差分线的两传输线走线情况一致，其中一端加测试探头，在另一端两条传输线联通，返回到测试探头端。本发明的设计可以使我们知道所设计PCB板的传输线插入损耗，并通过计算和仿真得到符合实际情况的Dk和Df值，这样，在以后的仿真过程中，得到的传输线模型将更加准确，仿真的结果将更加可信。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 针对 高速 信号 损耗 测试 设计 | ||
【主权项】：
一种针对高速信号损耗测试的设计，其特征在于测试时，线宽和间距需要根据实际高速信号线的阻抗以及所在的层设计；测试QPI，PCIE总线的测试板情况：阻抗为85欧姆，板材为IT180A，线宽为5MIL，对间间距为7MIL，采用10度走线方式，传输线线长需要8INCH，此线长是为了测量准确度考虑；传输线在表层、第三层以及第六层都有分布；所述测试板需要在这几层添加被测差分信号线；设计测试板时，需保证差分线的两传输线走线情况一致，其中一端加测试探头，在另一端两条传输线联通，返回到测试探头端。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浪潮电子信息产业股份有限公司，未经浪潮电子信息产业股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410388986.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种磁芯损耗测量的定标方法
- 下一篇：电子电路的布线结构中电流测量的集成
