[发明专利]一种X射线脉冲探测器测试标定光源的方法及装置

摘要

本发明涉及一种X射线脉冲探测器测试标定光源的方法及装置。包括X射线脉冲产生系统及标准探测器标定系统；上述X射线脉冲产生系统生成X射线脉冲经标准探测器标定系统测试标定光源。本发明提供了一种造价低廉、设备精巧、科学合理、参数量化、性能稳定的X射线脉冲探测器测试标定光源的方法及装置。

主权项

一种X射线脉冲探测器测试标定光源的方法，其特征在于：包括以下步骤：1】单能X射线产生腔室产生的单能X射线脉冲射入标准探测器从而形成与X射线脉冲能量相关的一定数量的电子空穴对；2】标准探测器内部阳极收集所产生的电子，并经过前置放大器形成第一级放大；第一级放大后的脉冲信号是一个斜坡脉冲，其上叠加由入射X射线光子所引起的信号，将这一斜坡脉冲进行微分并滤波，就可以将入射光子引起的脉冲信号分离出来；3】分离后的脉冲信号经过ADC转换，变为数字信号波形；4】数字信号波形经过平滑滤波和整形处理，所述整形处理包括快整形处理和慢整形处理；4.1]所述快整形处理对整形后的波形进行阈值甄别，高于一定阈值就认为是一个有效事件，总的光子流量计数统计增加一个；通过长时间累积探测，可以得到该光源的平均光子流量；4.2]所述慢整形处理对整形后的波形进行峰值检测，以得到脉冲幅值，该幅值与入射光子能量成正比，从而可以对该能量下的计数统计增加一个；5】通过长时间累积探测，可以得到各个能量下的计数统计，从而得到光源的能谱分布；利用经过总光子流量和能谱分布标定的这一光源，就可以对其他各种X射线探测器的性能进行比对、标定。