[发明专利]一种X射线缺陷检测控制系统有效

专利信息
申请号: 201410347489.X 申请日: 2014-07-21
公开(公告)号: CN104133403B 公开(公告)日: 2017-01-04
发明(设计)人: 成小乐;屈银虎;张航鲜;蒙青;蒙敏荣;刘新峰 申请(专利权)人: 西安工程大学
主分类号: G05B19/042 分类号: G05B19/042;G01N23/04
代理公司: 西安弘理专利事务所61214 代理人: 王奇
地址: 710048 陕*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开了一种X射线缺陷检测控制系统,包括X射线传感器信号采集模块,X射线传感器信号采集模块依次通过信号滤波、信号放大、AD转换器与CPLD模块连接,CPLD模块与SOC模块交互连接;SOC模块分别与数字信号采集存储模块、被检测物体的传输机构、图像检测识别机构、剔除报警机构连接;SOC模块还与人机交互的PC机连接。本发明装置,能与多种外设进行可靠通信,实现了数据的可靠采集,数据的实时存储,高分辨率图像的实时处理,以及处理结果实时反馈,广泛的应用于工业质量控制领域,社会和市场价值巨大。
搜索关键词: 一种 射线 缺陷 检测 控制系统
【主权项】:
一种X射线缺陷检测控制系统,其特征在于,包括X射线传感器信号采集模块(1),X射线传感器信号采集模块(1)依次通过信号滤波(2)、信号放大(3)、AD转换器(4)与CPLD模块(5)连接,CPLD模块(5)与SOC模块(6)交互连接;SOC模块(6)分别与数字信号采集存储模块(7)、被检测物体的传输机构(8)、图像检测识别机构(9)、剔除报警机构(10)连接;SOC模块(6)还与人机交互的PC机(11)连接;所述SOC模块(6)中集成配置有ARM+DSP+3D图像加速引擎,SOC模块(6)与CPLD模块(5)之间的连接是采用EMIF接口;所述PC机(11)与SOC模块(6)之间通过USB3.0连接。
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