[发明专利]一种基于几何特征的二维工业标识和定位系统在审
| 申请号： | 201410346401.2 | 申请日： | 2014-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN104296653A | 公开（公告）日： | 2015-01-21 |
| 发明（设计）人： | 涂成生 | 申请（专利权）人： | 无锡新吉凯氏测量技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 路凯;孟金喆 |
| 地址： | 214135 江苏省无锡市新区菱*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于几何特征的二维工业标识和定位系统，包括二维几何尺寸测量设备，用于测量被测物体上或与被测物体有固定位置关系的几何特征组的二维几何数据；测量系统计算机，用于将所述几何特征组的二维几何数据与预存的与该几何特征组对应的已知物体的几何特征的二维几何数据进行匹配比较，若匹配比较结果小于预设的允许误差值，则判定被测物体与已知的物体一致，实现对被测物体的识别，同时完成对被测物体的基准定位。本发明用被测物体几何特征组的二维几何数据作为被测物体的标识，可广泛用于制造领域中平板状物体如印刷电路板的识别即身份确认，并在识别身份的同时获得被测物体的方位信息，便于后续自动化工作的实现。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 几何 特征 二维 工业 标识 定位 系统 | ||
【主权项】：
一种基于几何特征的二维工业标识和定位系统，其特征在于，包括二维几何尺寸测量设备和测量系统计算机；所述二维几何尺寸测量设备用于测量被测物体上或与被测物体有固定位置关系的几何特征组的二维几何数据，输出给测量系统计算机；所述测量系统计算机与二维几何尺寸测量设备通信连接，用于将所述几何特征组的二维几何数据与预存的与该几何特征组对应的已知物体的几何特征的二维几何数据进行匹配比较，若匹配比较结果小于预设的允许误差值，则判定被测物体与已知的物体一致，实现对被测物体的识别，同时完成对被测物体的基准定位。
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