[发明专利]数字X射线成像系统的分辨率性能评估方法

摘要

本发明提供一种数字X射线成像系统的分辨率性能评估方法，包括：①连续采集多幅刀口图像；②对所采集的多幅刀口图像叠加平均，而后对平均后的刀口图像进行刀口边界检测，并且利用直线拟合获得刀口边界直线；③获得刀口倾斜角度，构建出过采样ESF曲线；④采用单调曲线拟合方法对过采样曲线消噪；⑤选择适当的平移距离，构建真实ESF曲线与其平移距离结果的差值曲线，对其傅里叶变换得到sinc函数；⑥对实际过采样ESF曲线进行适当的平移，而后与原来的过采样曲线相减，得到对称的过采样曲线；⑦利用频域下恶化模型公式求解系统调制传递函数。本发明可以获得较传统刀口测量方法更为准确的MTF曲线。

主权项

一种数字X射线成像系统的分辨率性能评估新方法，包括下列步骤：①设置数字放射成像系统的曝光参数，放置刀口测试仪器，使其紧贴数字X射线成像系统的探测器，并使刀口与探测器采样方向有一倾斜角度，连续采集多幅刀口图像。②对所采集的多幅刀口图像叠加平均，而后对平均后的刀口图像进行刀口边界检测，并且利用直线拟合获得刀口边界直线；③对刀口边界直线图进行Hough变换，获得刀口倾斜角度α，而后依据公式N＝round(N_ave)＝round(1/tanα)得到该倾角对应的插值数N，从而构建出过采样ESF曲线g(x)，round符号代表取整函数；④计算过采样ESF曲线g(x)的信噪比，当零频率位置对称ESF曲线中噪声与信号频率的幅度谱比值大于0.5％时，采用单调曲线拟合方法对过采样曲线g(x)进行消噪；⑤通过对数字放射成像系统的模拟实验得到真实ESF曲线f(x)，根据探测器像素大小对应的分辨率，选择适当的平移距离T，构建真实ESF曲线f(x)与其平移T距离结果f(x‑T)的差值曲线，即方波对其傅里叶变换得到sinc函数T的取值需要保证sinc函数的过零点与所需MTF曲线的取值频率不重合；⑥对实际过采样ESF曲线g(x)进行适当的平移T距离得到g(x‑T)，而后与原来的过采样曲线g(x)相减，得到对称的过采样曲线对和分别作傅里叶变换得到和⑦利用频域下恶化模型公式求解系统调制传递函数MTF′(u)，而后对MTF′(u)采用零频率位置MTF值进行归一化，即MTF(u)＝MTF′(u)/MTF′(u)|_u＝0，最终得到归一化调制传递函数MTF(u)。