[发明专利]一种基于AOI的子弹表观缺陷检测方法在审
| 申请号： | 201410324207.4 | 申请日： | 2014-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN104122271A | 公开（公告）日： | 2014-10-29 |
| 发明（设计）人： | 杨雷;尹志强;赵泽东;陈仕隆;吕坤 | 申请（专利权）人： | 宁波摩视光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G06T7/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 315100 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于AOI的子弹表观缺陷检测方法，包括（1）采用CCD线阵相机对子弹表面进行拍摄，获得子弹表面的初始灰度图像；（2）对初始灰度图像依次进行去噪、增强、分割的预处理，获得二值化的图像；（3）对二值化图像进行连通域标记处理，获得子弹表面的所有缺陷的像素点集合；（4）对各缺陷区域分别进行特征提取；（5）将提取出的各特征值与预设的缺陷标准特征对比，确定各缺陷的类型。本发明以自动光学检测作为基础，设计出一整套子弹表观缺陷检测的方案，通过精准全面的图像获取、快捷的图像处理算法、方便准确的特征提取与识别，高效准确地实现了对子弹表观缺陷的完整检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 aoi 子弹 表观 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种基于AOI的子弹表观缺陷检测方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)采用CCD线阵相机对子弹表面进行拍摄，获得子弹表面的初始灰度图像；(2)对初始灰度图像依次进行去噪、增强、分割的预处理，获得二值化的图像；(3)对二值化图像进行连通域标记处理，获得子弹表面的所有缺陷的像素点集合；(4)对各缺陷区域分别进行特征提取；(5)将提取出的各特征值与预设的缺陷标准特征对比，确定各缺陷的类型。
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