[发明专利]光学元件和检测色谱测距传感器系统的脱离状况的方法有效

专利信息
申请号: 201410315622.3 申请日: 2014-07-03
公开(公告)号: CN104279953B 公开(公告)日: 2018-10-19
发明(设计)人: 大卫·威廉·赛思克 申请(专利权)人: 株式会社三丰
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供一种光学元件和检测色谱测距传感器系统的脱离状况的方法。脱离信号元件包括在探测器的可更换型光学元件中。该脱离信号元件被配置为大致透过与测量范围相对应的第一组波长,并且至少部分反射一组脱离信号元件波长。在一个实现中,脱离信号元件包括诸如锐边滤波器等的薄膜涂层。如此可以在无需向探测器或使用该探测器的坐标测量机添加其它外部传感器或布线的情况下,使用现有的探测器电子装置来实现脱离状况的检测。可以利用脱离状况的感测来中止探测器的进一步移动,以使在发生碰撞的情况下的损坏最小。
搜索关键词: 光学 元件 检测 色谱 测距 传感器 系统 脱离 状况 方法
【主权项】:
1.一种光学笔所用的可更换型光学元件,所述光学笔用在提供坐标测量机即CMM中的工件测量信息的色谱测距传感器系统中,并且包括光学笔基座构件,所述光学笔基座构件相对于所述CMM的移动部固定并且包括光纤,所述光纤输出经由共焦孔透过的源光,并且接收经由所述共焦孔返回的反射测量信号光,所述可更换型光学元件包括:安装部,其由所述光学笔基座构件容纳,用于相对于所述光学笔基座构件以固定关系保持所述可更换型光学元件;色散光学部,用于输入来自所述共焦孔的源光,沿着测量范围会聚具有纵向色像差的所述源光,并且使所述测量范围中的从表面反射的测量信号光返回至所述共焦孔;以及脱离信号元件,其被定位成接收所述源光,并且用于:(a)大致透过与所述色谱测距传感器系统的所述测量范围相对应的第一组波长;以及(b)至少部分反射经由所述光纤要返回的一组脱离信号元件波长,以使得能够在没有至少部分反射所述一组脱离信号元件波长的情况下检测脱离状况,其中,所述脱离状况表示所述可更换型光学元件变得与所述光学笔脱离。
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