[发明专利]测试元件组、阵列基板、显示装置和测试方法有效
| 申请号： | 201410294760.8 | 申请日： | 2014-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN104090389B | 公开（公告）日： | 2017-06-27 |
| 发明（设计）人： | 张明;张九占;杨通;王国磊;胡明 | 申请（专利权）人： | 合肥鑫晟光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 230011 安徽省合肥*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试元件组、阵列基板、显示装置和测试方法，涉及显示技术领域，能够有效检测出TFT远离栅极一侧的有源层表面的状况，且不会对TFT造成损伤。测试元件组，包括薄膜晶体管，所述薄膜晶体管包括栅极、源极、漏极和有源层；所述薄膜晶体管远离所述栅极的一侧设置有测试电极，所述测试电极与所述薄膜晶体管之间设置有测试电极绝缘层；第一接触电极，连接于所述源极，第二接触电极，连接于所述漏极，第三接触电极，连接于所述测试电极。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 元件 阵列 显示装置 方法 | ||
【主权项】：
一种测试元件组，其特征在于，包括：薄膜晶体管，所述薄膜晶体管包括栅极、源极、漏极和有源层；所述薄膜晶体管远离所述栅极的一侧设置有测试电极，所述测试电极与所述薄膜晶体管之间设置有测试电极绝缘层；第一接触电极，连接于所述源极，第二接触电极，连接于所述漏极，第三接触电极，连接于所述测试电极；其中，所述源极、漏极、有源层、测试电极和测试绝缘层形成测试薄膜晶体管，所述测试薄膜晶体管用于测试所述有源层中远离栅极一侧的表面状况。
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