[发明专利]一种微纳照明下的多重散射超分辨显微方法与装置有效

专利信息
申请号: 201410288764.5 申请日: 2014-06-24
公开(公告)号: CN105301753B 公开(公告)日: 2018-09-11
发明(设计)人: 杨青;刘小威;刘旭;李海峰;匡翠方;郝翔;周雅旋 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G02B21/06 分类号: G02B21/06;G02B21/36;G01N21/00
代理公司: 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 代理人: 胡红娟
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种微纳照明下的多重散射超分辨显微方法,包括以下步骤:1)利用微纳光源作用于具有单一空间频率的微纳结构样品,使微纳结构样品内部发生多重散射;2)通过显微镜对单一空间频率样品进行光场成像,并对像进行频谱分析,得到所述微纳光源的频移量;3)更换具有不同单一空间频率的结构样品,建立所述的微纳光源与各空间频率对应的频移数据库;4)利用所述的微纳光源观察待测样品,并对待测样品进行360度的照射,在照射过程中应用显微镜进行成像,得到相应的频移图像;5)根据所述的频移数据库,对频移图像进行频谱还原和重构,得到待测样品的超分辨显微图像。本发明还公开了一种微纳照明下的多重散射超分辨显微装置。
搜索关键词: 一种 照明 多重 散射 分辨 显微 方法 装置
【主权项】:
1.一种微纳照明下的多重散射超分辨显微方法,其特征在于,包括以下步骤:1)利用微纳光源作用于具有单一空间频率的微纳结构样品,使微纳结构样品内部发生多重散射;所述的微纳光源为受外界激发产生自发辐射的纳米线,所述纳米线的直径设置为200nm‑400nm,纳米线的辐射光通过接触耦合进入衬底平板波导,微纳结构样品和待测样品被纳米线的辐射光照亮,所述的纳米线环绕样品并沿样品轮廓进行弯曲;2)通过显微镜对微纳结构样品进行光场成像,并对像进行频谱分析,得到所述微纳光源在该空间频率下的频移量;3)更换具有不同单一空间频率的微纳结构样品,重复步骤1)和步骤2)中的操作,利用微纳光源在各空间频率下的频移量建立频移数据库;4)利用所述的微纳光源观察待测样品,并对待测样品进行360度的照射或扫描,在此过程中应用显微镜进行成像,得到相应的频移图像;5)根据所述的频移数据库,对频移图像进行频谱还原和重构,得到待测样品的超分辨显微图像。
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