[发明专利]利用辐射谱的全部信息测火焰实际温度的方法及测量系统有效

专利信息
申请号: 201410169861.2 申请日: 2014-04-25
公开(公告)号: CN103900723A 公开(公告)日: 2014-07-02
发明(设计)人: 曹柏林;谭成章;曹锐;刘成刚;曹利;陈长芳;李耀;戴长健 申请(专利权)人: 刘友祥
主分类号: G01J5/60 分类号: G01J5/60
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 温国林
地址: 300102 天*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种利用辐射谱的全部信息测火焰实际温度的方法及测量系统,本发明应用“能级结构修正”进行更加理论化的数据处理,可以利用辐射谱的全部信息。采用键盘的输入方式或数据传输的输入方式,获取到“能级结构修正参数”,并最终获取到被测火焰更加准确的实际温度值。本发明有效地克服了人们在采用“多光谱测温法”时,必须经过计算工作量大的数据处理进行“辐射率修正”,才能得到火焰实际温度的缺陷。目前已有的“多光谱测温法”只能利用辐射谱中的几个“单色辐射本领”信息;本发明能够利用辐射谱中的全部,一般有几千个“单色辐射本领”的信息。
搜索关键词: 利用 辐射 全部 信息 火焰 实际 温度 方法 测量 系统
【主权项】:
一种利用辐射谱的全部信息测火焰实际温度的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:(1)通过处于校准状态的实际温度测量系统中的数字化光谱仪,测出待测对象在任意一已知温度下的发射本领随波长λ变化的第一数字化分布谱,求出峰值波长λm;(2)将第一数字化分布谱输入到安装有第一物理模型的单片机或PC机上进行数据处理,用最小二乘法对第一数字化分布谱作曲线拟合,获取反映能级结构的参数X(1)、X(2);(3)获取待测对象的维恩位移定律修正公式,并作为第二物理模型输入到实际温度测量系统中的单片机或PC机上;(4)将验证后的反映能级结构参数的X(2))输入到所述第二物理模型中,实现对实际温度测量系统的校准;(5)通过处于测温状态的实际温度测量系统中的光谱仪,测出待测对象在待测温度下的发射本领随波长λ变化的第二数字化分布谱,获得峰值波长λm的具体数值;(6)将步骤(5)获得的峰值波长λm,输入处于测温状态的实际温度测量系统内的PC机或单片机,根据所述第二物理模型进行运算处理,获取待测对象的温度值;(7)将待测对象的温度值通过显示器予以显示。
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