[发明专利]用于探测辐射的探针有效

专利信息
申请号: 201410126165.3 申请日: 2009-05-14
公开(公告)号: CN103995276B 公开(公告)日: 2017-09-22
发明(设计)人: 约翰·考尔 申请(专利权)人: 德威科尔医学产品公司
主分类号: G01T1/161 分类号: G01T1/161
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司11290 代理人: 李晗,陈桂香
地址: 美国俄*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开了一种用于探测辐射的探针,其包括延长手柄,其具有第一端和第二端;以及组装件,其布置在所述手柄的一端以用于探测光子发射,所述组装件包括至少三个镉‑锌‑碲晶体片,其布置为层叠阵列并以并行电路电连接在一起;以及防护罩,其至少部分地包围所述晶体片,其中,其中所述层叠阵列提供可比拟厚度大体等同于所述晶体片厚度总和的单块晶体的光子吸收,其中,所述层叠阵列以小于厚度大体等同于所述晶体片厚度总和的所述单块晶体所需电压的电压进行电偏置,且其中,所述层叠阵列以对应于厚度比率的电压进行电偏置,所述厚度比率为所述单个晶体片的厚度与具有大体等同于所述晶体片厚度总和的所述单块晶体的厚度之比。
搜索关键词: 用于 探测 辐射 探针
【主权项】:
一种用于探测辐射的探针,其包括:手柄;以及组装件,其布置在所述手柄的一端以用于探测光子发射,所述组装件包括:至少三个镉‑锌‑碲晶体片,其布置为层叠阵列并以并行电路电连接在一起;以及防护罩,其包围所述晶体片,其中,其中所述层叠阵列提供可比拟厚度大体等同于所述晶体片厚度总和的单块晶体的光子吸收,其中,所述层叠阵列以小于厚度大体等同于所述晶体片厚度总和的所述单块晶体所需电压的电压进行电偏置,且其中,所述层叠阵列以对应于厚度比率的电压进行电偏置,所述厚度比率为所述单个晶体片的厚度与具有大体等同于所述晶体片厚度总和的所述单块晶体的厚度之比。
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