[发明专利]基于低反射率三芯光纤光栅阵列空间形状测量装置及方法有效
| 申请号： | 201410118925.6 | 申请日： | 2014-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN104215197B | 公开（公告）日： | 2019-07-30 |
| 发明（设计）人： | 崔继文;冯昆鹏;谭久彬 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 基于低反射率三芯光纤光栅阵列空间形状测量装置及方法属于精密仪器制造及测量技术；所述装置结构是：三芯光纤扇出器与低反射率三芯光纤布拉格光栅阵列传感器光缆连接，所述低反射率三芯光纤布拉格光栅阵列传感器光缆由纤芯均布配置的三芯光纤和配置在三芯光纤外部的保护套构成，三芯光纤上刻写了低反射率光纤布拉格光栅阵列；所述测量方法是：在多路光开关作用下，光学频域反射计OFDR通过测量光谱获得低反射率光纤布拉格光栅阵列和隔绝外应力封装的参考光纤布拉格光栅阵列光缆的应力、温度分布，进而解耦温度的影响，重建空间形状信息。本装置具有信噪比高、精度高、对环境不敏感、可以依附在被测构件表面实时测量以及使用寿命长的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 三芯光纤 布拉格光栅阵列 低反射率 低反射率光纤 测量装置 光栅阵列 空间形状 测量 传感器 光缆 空间形状信息 刻写 多路光开关 频域反射计 参考光纤 构件表面 光缆连接 精密仪器 实时测量 使用寿命 温度分布 装置结构 不敏感 配置的 信噪比 光谱 解耦 均布 扇出 纤芯 封装 依附 外部 重建 配置 制造 | ||
【主权项】：
1.一种基于低反射率三芯光纤光栅阵列空间形状测量装置，包括宽频光源(11)、控制计算机(12)、EOM脉冲调制器(13)、光环形器(14)、光学频域反射计OFDR(15)、多路光开关(16)，所述宽频光源(11)与EOM脉冲调制器(13)、EOM脉冲调制器(13)与光环形器(14)、光环形器(14)与多路光开关(16)、多路光开关(16)与三芯光纤扇出器(17)通过单模光纤连接形成通路；所述光环形器(14)与光学频域反射计OFDR(15)通过单模光纤连接形成通路；其特征在于：所述三芯光纤扇出器(17)与低反射率三芯光纤光栅阵列传感器光缆(18)连接，所述低反射率三芯光纤光栅阵列传感器光缆(18)由纤芯均布配置的三芯光纤(21)和配置在三芯光纤(21)外部的保护套(22)构成，在三芯光纤(21)上刻写了低反射率光纤光栅阵列(23)；所述多路光开关(16)与隔绝外应力封装的参考光纤光栅阵列光缆(19)连接形成通路；控制计算机(12)通过电缆分别与EOM脉冲调制器(13)、光学频域反射计OFDR(15)、多路光开关(16)连通。
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