[发明专利]终端天线耦合测试系统有效

专利信息
申请号: 201410109965.4 申请日: 2014-03-21
公开(公告)号: CN104935386B 公开(公告)日: 2018-09-11
发明(设计)人: 韩远帅 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H04B17/12 分类号: H04B17/12;H04B17/29;H01Q5/00
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 胡海国
地址: 518057 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种终端天线耦合测试系统,包括用于放置待测终端的屏蔽箱、位于屏蔽箱腔室中的可调天线装置,以及用于在指定的天线测试频段获取待测终端的天线性能的综合测试仪,其中,可调天线装置设有与综合测试仪电连接的耦合天线,可调天线装置用于根据待测终端的天线测试频段调整与综合测试仪连接的耦合天线。本发明提出的终端天线耦合测试系统,可避免人工繁琐地逐一调整耦合天线的位置以测量待测终端的天线性能。本终端天线耦合测试系统可大大提高多频段待测终端的天线性能测试过程,同时本终端天线耦合测试系统结构简单、容易实现。
搜索关键词: 待测终端 终端天线 耦合测试 综合测试仪 天线装置 耦合天线 可调 天线测试 天线性能 屏蔽箱 天线性能测试 频段调整 频段获取 系统结构 电连接 多频段 腔室 测量
【主权项】:
1.一种终端天线耦合测试系统,其特征在于,包括用于放置待测终端的屏蔽箱、位于所述屏蔽箱腔室中的可调天线装置,以及用于在指定的天线测试频段获取所述待测终端的天线性能的综合测试仪,其中,所述可调天线装置设有与所述综合测试仪电连接的耦合天线,所述可调天线装置用于根据所述待测终端的天线测试频段调整与所述综合测试仪连接的耦合天线;所述终端天线耦合测试系统还包括用于根据所述待测终端的天线测试频段的更换、调整所述耦合天线的控制终端,该控制终端与所述可调天线装置电连接;其中,所述可调天线装置内设有长度可调节的耦合天线和用于调整所述耦合天线长度的驱动机构,所述控制终端控制所述耦合天线的长度调节,该驱动机构与所述控制终端电连接,当所述驱动机构在接收到所述控制终端发送的切换指令时,控制所述耦合天线长度调整为与当前天线测试频段对应的长度。
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