[发明专利]用于模拟数字转换器校准的系统、方法及记录介质有效
| 申请号： | 201410094032.2 | 申请日： | 2014-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN104052477B | 公开（公告）日： | 2017-11-17 |
| 发明（设计）人： | 李棹;S·巴尔;K·G·加尔德;D·阿尔德雷德;C·迈尔;T·C·考德威尔;D·J·迈克劳瑞恩;V·考兹罗夫 | 申请（专利权）人： | 亚德诺半导体集团 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人： | 陈华成 |
| 地址： | 百慕大群岛(*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于模拟数字转换器校准的系统、方法及记录介质。本发明公开一种用于模拟数字转换器(ADC)的校准系统，所述校准系统包括接收模拟输入并将所述模拟输入转换成数字多比特数据的内部ADC。所述校准系统还包括混洗所述内部ADC的比较器的基准值的基准混洗电路。另外，所述校准系统包括校准所述内部ADC的所述比较器的校准电路。所述校准系统包括基于所述数字多比特数据来测量振幅的数字块。此外，所述校准系统包括基于所述数字块的输出来控制所述校准电路的校准逻辑。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 模拟 数字 转换器 校准 系统 方法 记录 介质 | ||
【主权项】：
一种用于模拟数字转换器ADC的校准系统，其包括：噪声源；内部ADC，其从所述噪声源接收模拟输入并将所述模拟输入转换成数字多比特数据；基准混洗电路，其混洗所述内部ADC的比较器的基准值；校准电路，其校准所述内部ADC的所述比较器；数字块，其基于所述数字多比特数据来测量振幅；以及校准逻辑，其被配置来基于所述数字块的输出来控制所述校准电路，其中所述校准逻辑被配置为周期性地扰动所有校准代码，并且随机地选择校准所述内部ADC的所述比较器的顺序。
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