[发明专利]用于检验电子元件的装置有效
| 申请号： | 201410075123.1 | 申请日： | 2014-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN103941115B | 公开（公告）日： | 2017-06-13 |
| 发明（设计）人： | G·斯坦尼斯泽维斯基;M·彼得曼;G·吉克文德伯格 | 申请（专利权）人： | 马提特斯电子系统有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京高文律师事务所11359 | 代理人： | 程义贵 |
| 地址： | 德国罗森*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于检验电子元件的装置，该装置具有至少一个用于接触电子元件（17）的检验管座（13）并具有一个电耦合于检验管座（13）上的测试头。根据本发明，为了在检验管座（13）和检测头之间传输信号，设置一个转接板（1），该转接板在其面对检验管座（13）的那一侧上具有适配于检验管座（13）的触点位置的接触面（2），并且其背离检验管座（13）的那一侧设置有适配于中间板（6）的或测试头的触针（10）位置的接触套筒（4），其中所述接触面（2）与各个相应的接触套筒（4）导电地连接。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检验 电子元件 装置 | ||
【主权项】：
用于检验电子元件的装置，该装置具有至少一个用于接触电子元件(17)的检验管座(13)并具有一个电耦合于检验管座(13)上的测试头，其特征在于，为了在检验管座(13)和测试头之间传输信号，设置一个转接板(1)，该转接板在其面对检验管座(13)的那一侧上具有适配于检验管座(13)的触点位置的接触面(2)，并且其背离检验管座(13)的那一侧设置有适配于连接板(6)的或测试头的触针(10)位置的接触套筒(4)，其中所述接触面(2)与各个相应的接触套筒(4)导电地连接。
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