[发明专利]引伸计及其测量方法有效
申请号: | 201410047309.6 | 申请日: | 2014-02-10 |
公开(公告)号: | CN103760025A | 公开(公告)日: | 2014-04-30 |
发明(设计)人: | 肖若冰;曾春英 | 申请(专利权)人: | 深圳三思纵横科技股份有限公司 |
主分类号: | G01N3/08 | 分类号: | G01N3/08;G01B11/16 |
代理公司: | 北京金知睿知识产权代理事务所(普通合伙) 11379 | 代理人: | 林俐;殷根娣 |
地址: | 518001 广东省深圳市宝*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及一种引伸计及其测量方法。所述引伸计的结构包括:激光系统,用于产生激光照射在试验机台上的测试试样;成像系统,用于采集测试试样的图像;测量系统,用于测试图像采集控制和图像信号处理,得出测量数据,并将数据输出;所述测量系统与激光系统和成像系统相连接。本发明还提供一种引伸计的测量方法,其步骤为:设置试样;调节激光系统;调节成像系统;进行试验;进行测量。本发明的引伸计,采用激光系统与成像系统的统一设计,具有结构紧凑、多功能、精度高、环境适应性好的优点,本发明的测量方法,具有方法简便、测量精确、多功能的优点,能够很容易地实现对试验试样的动态、静态参数的测量,极大地提高了测试的效率。 | ||
搜索关键词: | 引伸计 及其 测量方法 | ||
【主权项】:
一种引伸计,其特征在于所述引伸计包括:激光系统,所述激光系统用于产生连续激光照射试验机台上的测试试样;成像系统,所述成像系统用于采集测试试样的图像;测量系统,所述测量系统用于测试图像采集控制和图像信号处理,得出测量数据,并将数据输出;所述测量系统与激光系统、成像系统相连接。
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